光干渉測定器『NCG』
最終更新日：
2023-04-17 11:14:03.0製品カタログ
半導体業界向け
半導体・バックグラインドプロセス制御のためのソリューションのご紹介です。
色彩共焦点式技術、厚さ計測向け非接触式測定ソリューション『STIL』
色彩共焦点（クロマティックコンフォーカル）技術を使用したセンサ方式の非接触表面形状・厚さ測定システムです。
最終更新日：
2024-01-30 15:12:35.0総合カタログ
色彩共焦点式技術非接触式測定ソリューション『IRIX』
色彩共焦点式技術を使用した非接触式センサーで、白色光が透過するさまざまな材料の距離と厚さを測定します。
最終更新日：
2022-11-25 15:53:46.0仕様書
モニタリングモジュール『GEMCMS』
最終更新日：
2020-09-01 13:57:23.0製品カタログ
CCDカメラ搭載非接触工具測定システム『VTS SF-45』
最終更新日：
2022-12-19 15:31:42.0製品カタログ
2024年3月12日ウェビナー案内_ナノレベル厚さ測定と形状検査の新提案
最終更新日：
2024-02-09 14:53:03.0その他資料
