【分析事例】分子動力学計算を用いたアモルファスSiNx膜構造解析
シミュレーションによってアモルファス膜のミクロな構造解析が可能です
最終更新日：
2019-04-01 16:59:39.0技術資料・事例集
【分析事例】SMMおよびSNDMによるSiC Trench MOSFETの拡散層評価_C0556
SiCデバイスの拡散層のp/n極性とキャリア濃度分布を評価できます
最終更新日：
2022-05-09 13:41:40.0技術資料・事例集
【分析事例】STEM,EBSDと像シミュレーションを併用した多結晶体の結晶構造解析_C0557
像シミュレーションを併用した結晶形の評価
最終更新日：
2021-05-27 16:33:24.0技術資料・事例集
【分析事例】X線CT観察によるSiC Trench MOSFET ディスクリートパッケージの評価
ディスクリートパッケージ内部の構造を非破壊で立体的に観察
最終更新日：
2022-11-18 17:21:09.0技術資料・事例集
【分析事例】TDSによるグラフェン粉末の脱ガス分析_C0553
炭素材料中の官能基や不純物などに起因する脱ガスについて評価可能です
最終更新日：
2022-04-14 14:28:06.0技術資料・事例集
【分析事例】SiC Planer Power MOSの分析
SiCデバイスの拡散層構造を可視化できます（拡散層構造の高感度評価）
最終更新日：
2019-03-12 13:18:46.0技術資料・事例集
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