カタログ

【分析事例】試料濃縮針による揮発性成分の濃縮分析

GC/MS：ガスクロマトグラフィー質量分析法

最終更新日： 2016-04-01 11:50:38.0技術資料・事例集

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ウエハ最表面の微量元素分析における前処理法_B0225

ICP-MS：誘導結合プラズマ質量分析法

最終更新日： 2021-05-13 18:18:25.0技術資料・事例集

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【分析事例】染料・顔料を塗布した紙の分析

TOF-SIMSにより染料・顔料由来の分子情報の可視化が可能

最終更新日： 2019-07-29 14:10:11.0技術資料・事例集

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【分析事例】熱分解GC/MSによるスマートフォン封止剤の分析

2段階の加熱によりUV硬化系素材の分析が可能

最終更新日： 2016-03-22 13:43:57.0技術資料・事例集

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【分析事例】MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)による有機ELデバイスの劣化解析

質量スペクトルを可視化することで、より高精度な解析が可能です

最終更新日： 2016-03-25 14:23:58.0技術資料・事例集

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【分析事例】MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)について

TOF-SIMS：飛行時間型二次イオン質量分析法

最終更新日： 2016-03-18 13:18:15.0技術資料・事例集

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【分析事例】固体高分子燃料電池電解質膜の劣化調査

LC/MS・ICによる劣化溶出成分の評価

最終更新日： 2016-08-25 11:37:12.0技術資料・事例集

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【分析事例】MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)による有機ELデバイスの評価

質量スペクトルを可視化することで、より高精度な解析が可能です

最終更新日： 2016-03-18 13:05:39.0技術資料・事例集

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【分析事例】高電子移動度トランジスタの評価_C0410

Csコレクタ付STEMにより結晶整合性および組成分布の評価が可能

最終更新日： 2023-04-10 16:13:47.0技術資料・事例集

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【分析事例】ABF-STEM観察によるGaNの極性評価_C0409

Csコレクタ付STEMにより原子レベルでの観察が可能です

最終更新日： 2023-04-10 14:22:57.0技術資料・事例集

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【分析事例】粉体異物の定性分析

手法を組み合わせることで、複数種類の成分情報を得ることが可能です

最終更新日： 2016-03-18 11:42:15.0技術資料・事例集

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【分析事例】溶解再沈法による高分子材料の添加剤評価

LC/MS・LC/MS/MSによる成分の定性

最終更新日： 2018-03-19 14:58:02.0技術資料・事例集

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【分析事例】高分子材料の添加剤評価

LC/MSによる成分の定性

最終更新日： 2016-03-18 11:31:34.0技術資料・事例集

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【分析事例】イオン化法ESI・APCIによる検出成分の違い

LC/MS：液体クロマトグラフィー質量分析法

最終更新日： 2016-08-25 11:25:48.0技術資料・事例集

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【分析事例】ニッケルめっき剥離面の評価

めっきの剥がれ、密着不良をTOF-SIMS分析で原因調査

最終更新日： 2023-04-20 16:38:50.0技術資料・事例集

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