カタログ

【分析事例】結晶Si太陽電池のキャリア分布評価

表面凹凸のあるサンプルでのキャリア拡散層の均一性評価

最終更新日： 2016-02-25 14:26:51.0技術資料・事例集

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【分析事例】結晶Si太陽電池の不純物評価_C0213

金属元素および大気成分元素の極微量分析

最終更新日： 2023-03-27 09:50:38.0技術資料・事例集

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【分析事例】結晶Si太陽電池の拡散層評価

ドーパントの定量評価およびキャリアの分布評価

最終更新日： 2016-08-25 13:48:40.0技術資料・事例集

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【分析事例】多結晶シリコン太陽電池のPLマッピング

太陽電池セルの欠陥の位置を非破壊で特定することができます

最終更新日： 2016-02-25 13:09:16.0技術資料・事例集

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【分析事例】液体中微粒子の構造・分散具合評価

クライオSEMを用いた液体状試料の断面構造観察

最終更新日： 2016-04-28 10:33:17.0技術資料・事例集

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【分析事例】劣化の激しい有機材料の状態評価_C0186

雰囲気制御下でのサンプリングで材料の正確な評価が可能です

最終更新日： 2021-05-27 17:50:58.0技術資料・事例集

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Arイオンミリング加工

機械研磨を行った後低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ50nm以下の透過電子顕微鏡用の薄膜試料を作製する加工法です

最終更新日： 2016-02-18 11:33:05.0製品カタログ

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ウルトラミクロトーム加工_B0172

TEM： 透過電子顕微鏡法　他

最終更新日： 2021-05-13 18:00:49.0製品カタログ

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［IP法］Arイオン研磨加工

IP（イオンポリッシュ）法は、研磨法の一種でイオンビームを用いて加工する方法です

最終更新日： 2016-02-18 11:02:35.0製品カタログ

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雰囲気制御下での処理

サンプル本来の状態を評価することが可能

最終更新日： 2018-09-19 15:26:54.0製品カタログ

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【分析事例】ゲート電極から基板へのBの突き抜け量評価

SSDP-SIMSによる測定面の凹凸・高濃度層の影響を避けた測定

最終更新日： 2016-08-25 14:24:02.0技術資料・事例集

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研究開発を強力サポート　「受託分析サービス」

お客様からお預かりした材料・製品の機器分析を行います。前処理から測定までをお引き受けし、分析データをご提供します。

最終更新日： 2024-04-03 10:00:31.0製品カタログ

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【分析事例】IGZO　薄膜の結晶性・膜密度評価

酸化物半導体のXRD・XRR分析事例

最終更新日： 2016-08-25 09:48:08.0技術資料・事例集

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【分析事例】有機EL材料(OLED)のTOF-SIMSによるRGB素子深さ方向分析

雰囲気制御下でのGCIB（Arクラスター）を用いた有機EL層構造・劣化層の評価

最終更新日： 2023-04-20 17:39:37.0

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【分析事例】垂直入射法による深さ方向分解能の向上

SIMS：二次イオン質量分析法

最終更新日： 2016-02-15 10:37:53.0技術資料・事例集

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【分析事例】マイクロサンプリング法

FIB：集束イオンビーム加工

最終更新日： 2016-02-15 10:35:43.0技術資料・事例集

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【分析事例】SEM装置での歪み評価

EBSD：電子後方散乱回折法

最終更新日： 2016-02-15 10:32:06.0技術資料・事例集

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【分析事例】球面収差補正機能

TEM：透過電子顕微鏡法

最終更新日： 2017-08-11 14:06:30.0技術資料・事例集

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【分析事例】高純度雰囲気下での前処理・測定_B0110

XPS：X線光電子分光法など

最終更新日： 2023-03-15 15:54:53.0技術資料・事例集

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【分析事例】FIB低加速加工

FIB：集束イオンビーム加工

最終更新日： 2016-02-15 10:21:43.0技術資料・事例集

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【分析事例】極薄SiON膜の組成・膜厚評価_C0002

XPSを用いたウエハ表面数nmの膜厚の見積もり

最終更新日： 2021-05-19 11:42:12.0技術資料・事例集

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【分析事例】ステンレス不動態皮膜の深さ方向状態評価_C0003

XPSによる結合状態別の深さ方向分布評価

最終更新日： 2021-05-04 14:33:32.0技術資料・事例集

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【分析事例】二酸化ケイ素の構造解析

非晶質（ガラス）二酸化ケイ素（SiO2）のラマン散乱分光法による構造解析

最終更新日： 2019-07-29 13:50:48.0技術資料・事例集

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【分析事例】ホール側壁ONO膜の構造観察

FIB法による特定箇所の平面TEM観察

最終更新日： 2016-02-19 11:24:26.0技術資料・事例集

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【分析事例】極浅ドーパント分布の高精度分析

ドーパント分布の高精度分析

最終更新日： 2016-08-25 14:28:16.0技術資料・事例集

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【分析事例】極浅注入プロファイルの評価

極浅ドーパント分布の高精度分析

最終更新日： 2016-08-25 14:26:03.0技術資料・事例集

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【分析事例】素子分離領域の歪解析

NBD： Nano Beam Diffractionによる微小領域の歪解析

最終更新日： 2016-10-31 12:07:05.0技術資料・事例集

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【分析事例】有機EL素子の成分分析

Slope面出し加工された有機多層構造試料のTOF-SIMS成分分析

最終更新日： 2019-03-25 15:58:11.0技術資料・事例集

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【分析事例】SiON膜の評価

膜厚1nm以下のSiON薄膜中N量を高精度に評価可能です

最終更新日： 2016-02-15 09:16:51.0技術資料・事例集

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【分析事例】ZnO膜の組成・不純物の三次元分布評価の詳細

イメージングSIMS分析により面内分布を可視化

最終更新日： 2016-02-19 11:02:36.0技術資料・事例集

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