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【分析事例】電子部品
電子部品の分析事例をご紹介します
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![C0377_最表面シラノール基の評価.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/62a/335324/IPROS46303574768296592419.jpeg?w=100&h=100)
![c0110.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/843/335300/IPROS8381908677804158586.jpg?w=100&h=100)
![C0002_極薄SiON膜の組成・膜厚評価.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/e0d/210262/IPROS20972358062892723280.jpeg?w=100&h=100)
![b0111.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image_generated/01/733/210264/210264_IPROS8666727680744594119_1.jpg?w=100&h=100)
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![B0110_高純度雰囲気下での前処理・測定.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/569/210265/IPROS81264281079474151975.jpeg?w=100&h=100)
![b0098.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image_generated/01/aa8/210268/210268_IPROS7939542933140394805_1.jpg?w=100&h=100)
![c0439.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/bb4/357029/IPROS2120569670430523854.jpg?w=100&h=100)
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![c0434.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/d32/349120/IPROS7345426172157653475.jpg?w=100&h=100)
【分析事例】イオン注入及びアニール処理を行ったSiの低温フォトルミネッセンススペクトル
照射欠陥やアニールによる結晶性の回復を確認することが可能です
最終更新日:
2016-07-29 13:36:15.0技術資料・事例集
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