![c0160.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image_generated/01/7af/210219/210219_IPROS6178323617116533259_1.jpg?w=100&h=100)
![照明.jpg](https://images.ipros.jp/public/premium/image_category/099/387108/IPROS1950854091709024012.jpg?w=100&h=100)
【分析事例】照明
照明の分析事例をご紹介します
![c0160.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image_generated/01/7af/210219/210219_IPROS6178323617116533259_1.jpg?w=100&h=100)
![C0090_TEM・SEMによる有機EL_OLED_・ゲート酸化膜の断面観察.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/b56/210240/IPROS91513336606251698016.jpeg?w=100&h=100)
【分析事例】TEM・SEMによる有機EL(OLED)・ゲート酸化膜の断面観察_C0090
低加速STEM観察により、低密度な膜でもコントラストがつきます
最終更新日:
2023-03-22 12:21:29.0技術資料・事例集
![C0186_劣化の激しい有機材料の状態評価.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/206/333169/IPROS16682860077749289502.jpeg?w=100&h=100)
![C0067_有機EL素子積層膜の膜密度・膜厚測定.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/fe3/210245/IPROS04015847825460333310.jpeg?w=100&h=100)
![c0289.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/a25/334720/IPROS2491034340471351485.jpg?w=100&h=100)
![C0269_化合物積層構造試料のSIMS分析.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/c12/334703/IPROS19967209626373389615.jpeg?w=100&h=100)
![C0241.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/42b/333619/IPROS341958644773503141.jpg?w=100&h=100)
【分析事例】GCIB(Arクラスター)を用いた有機材料劣化成分の深さ方向分析
雰囲気制御下でのGCIBを用いた有機EL層構造および劣化層の成分評価
最終更新日:
2016-03-01 11:39:52.0技術資料・事例集
![C0232.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/452/333611/IPROS9214484088616122838.jpg?w=100&h=100)
![b0004.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image_generated/01/e87/210270/210270_IPROS7626060560376622711_1.jpg?w=100&h=100)
![c0413.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/f72/335974/IPROS1576801011353801905.jpg?w=100&h=100)
【分析事例】MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)による有機ELデバイスの劣化解析
質量スペクトルを可視化することで、より高精度な解析が可能です
最終更新日:
2016-03-25 14:23:58.0技術資料・事例集
![b0221.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/d2f/335833/IPROS2025136802461393671.jpg?w=100&h=100)
【分析事例】MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)について
TOF-SIMS:飛行時間型二次イオン質量分析法
最終更新日:
2016-03-18 13:18:15.0技術資料・事例集
![c0411.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/f0c/335830/IPROS6705579921419628462.jpg?w=100&h=100)
【分析事例】MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)による有機ELデバイスの評価
質量スペクトルを可視化することで、より高精度な解析が可能です
最終更新日:
2016-03-18 13:05:39.0技術資料・事例集
![b0214.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/514/335532/IPROS3540845505500124027.jpg?w=100&h=100)
![B0215.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/584/335499/IPROS4017655975568849082.jpg?w=100&h=100)
![b0210.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/1a6/335422/IPROS45514099279160134446.jpeg?w=100&h=100)
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