【分析事例】ディスプレイ カタログ一覧

【分析事例】液晶パネルの異物・汚れ成分の同定・推定

ミクロンからセンチオーダーの異物・汚れをイメージとして捉えます

最終更新日： 2016-02-15 15:06:18.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】Si酸化膜・ITO膜中の「水」の評価

｢重水(D2O)処理」を用いた水素の深さ方向分析

最終更新日： 2016-03-01 11:09:39.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】高純度雰囲気下での前処理・測定_B0110

XPS：X線光電子分光法など

最終更新日： 2023-03-15 15:54:53.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】化合物積層構造試料のSIMS分析_C0269

前処理により化合物層を選択的に除去してから分析が可能

最終更新日： 2023-04-19 17:49:06.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】GCIB（Arクラスター）を用いた有機材料劣化成分の深さ方向分析

雰囲気制御下でのGCIBを用いた有機EL層構造および劣化層の成分評価

最終更新日： 2016-03-01 11:39:52.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】劣化の激しい有機材料の状態評価_C0186

雰囲気制御下でのサンプリングで材料の正確な評価が可能です

最終更新日： 2021-05-27 17:50:58.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】有機EL素子積層膜の膜密度・膜厚測定_C0067

X線反射率測定（XRR）で膜厚・密度の分析が非破壊で可能です

最終更新日： 2021-05-19 12:25:25.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】有機EL素子の電極/有機層界面の状態評価_C0094

不活性ガス雰囲気下で前処理からXPS測定まで行います

最終更新日： 2021-05-20 17:27:24.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】有機EL素子Alq3層/発光層界面の評価

TOF-SIMS深さ方向分析による劣化評価

最終更新日： 2016-02-15 11:53:56.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】有機EL素子中不純物の深さ方向分析

界面や各層のより正確な情報を得るために特殊加工・最適条件を検討しました

最終更新日： 2016-02-15 13:16:28.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】有機EL素子の劣化評価

雰囲気制御下での切削により加工による変質を抑制

最終更新日： 2016-08-24 14:27:31.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】有機EL発光層の成分分析_C0112

雰囲気を保ったまま解体・前処理から装置導入まで可能

最終更新日： 2021-05-20 17:37:16.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】有機EL素子の層構造評価_C0088

雰囲気制御下での加工で酸化劣化を防止

最終更新日： 2021-05-19 17:18:42.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】有機EL素子の層構造評価_C0087

雰囲気制御下で前処理を行うことで酸化劣化を防いだ分析が可能です

最終更新日： 2023-03-08 18:57:26.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】TFT配線交差部の深さ方向分析

微小領域・ガラス基板についてもSSDPによる高精度分析が可能

最終更新日： 2016-02-15 14:31:13.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】XAFSによるシリコン酸化膜評価

シリコン周囲の局所構造解析、中間酸化物の定量、バルク・界面の評価

最終更新日： 2016-10-21 13:41:16.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】熱分解GC/MSによるスマートフォン封止剤の分析

2段階の加熱によりUV硬化系素材の分析が可能

最終更新日： 2016-03-22 13:43:57.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)による有機ELデバイスの劣化解析

質量スペクトルを可視化することで、より高精度な解析が可能です

最終更新日： 2016-03-25 14:23:58.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)について

TOF-SIMS：飛行時間型二次イオン質量分析法

最終更新日： 2016-03-18 13:18:15.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)による有機ELデバイスの評価

質量スペクトルを可視化することで、より高精度な解析が可能です

最終更新日： 2016-03-18 13:05:39.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】電子回折の種類と特徴

TEM：透過電子顕微鏡法

最終更新日： 2016-10-31 11:29:57.0

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】有機膜材料の配向角評価

XAFS：X線吸収微細構造

最終更新日： 2016-03-16 13:10:16.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】ケミカルシフトによる金属酸化物の価数評価

XPS：X線光電子分光法

最終更新日： 2023-03-29 16:59:03.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】薄膜表面処理後の仕事関数評価

ITO表面プラズマ処理後のUPS分析

最終更新日： 2016-03-15 14:59:10.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】低温フォトルミネッセンス測定の注意事項

PL：フォトルミネッセンス法

最終更新日： 2016-03-15 14:29:24.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】銅(Cu)表面自然酸化膜の層構造・膜厚評価_C0373

TOF-SIMSによる深さ方向の状態評価

最終更新日： 2023-04-07 16:37:11.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】銅(Cu)の酸化膜厚評価 保管環境による違い_C0372

TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捉えることが可能

最終更新日： 2023-04-07 16:10:55.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】テクスチャ付きGaN系LEDの元素分布評価

凹凸のある構造でも平坦化加工により深さ方向分布評価が可能

最終更新日： 2016-03-10 09:35:02.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】ポリイミド成分の深さ方向分析_C0242

TOF-SIMSによる高分子・樹脂・フィルムの表面改質層の深さ方向の評価が可能

最終更新日： 2021-05-28 14:42:30.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み

【分析事例】熱分解GC/MSを用いた発生ガス分析及び高分子材料の同定

熱分解GC/MSの原理とアプリケーションについて

最終更新日： 2016-03-01 09:43:39.0技術資料・事例集

お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード 立ち読み