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◆SCM（走査型静電容量顕微鏡法）
◆SMM（走査型マイクロ波顕微鏡法）
◆SSRM（走査型広がり抵抗顕微鏡法）
◆SRA（広がり抵抗測定法）
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【分析事例】ノーマリーオフ型 GaN HEMT 二次元電子ガス層評価_C0702
製品調査の複合解析をワンストップでご提案可能です
最終更新日：
2023-11-30 11:55:59.0技術資料・事例集
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