【測定法】そのほかの測定法
◆白色干渉計測法
◆EMS(エミッション顕微鏡法)
◆EMS(エミッション顕微鏡法)
【分析事例】第一原理計算によるワイドギャップ半導体 窒化ガリウム(GaN)における欠陥準位の解析_C0680
点欠陥の形成エネルギー、電荷、光学遷移など様々な物性情報が得られます
最終更新日:
2022-12-08 11:30:42.0技術資料・事例集
【分析事例】NMRを用いた製品中のNMN含有量分析_C0695
NMN(β-ニコチンアミドモノヌクレオチド)の絶対定量が可能です
最終更新日:
2023-06-15 14:13:46.0技術資料・事例集
X線CTによるスティッチング撮影-広視野観察と高分解能観察の両立-_B0293
複数のCT像を縦に連結して撮影することができます
最終更新日:
2023-07-20 10:14:35.0技術資料・事例集
【分析事例】発光寿命測定によるキャリアライフタイム評価_C0696
発光寿命からSiCのキャリアライフタイムについて知見が得られます
最終更新日:
2023-08-24 12:23:48.0技術資料・事例集
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