![B0285_剥離原因となる金属界面の有機物評価.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/f22/678607/IPROS86834706858458212389.jpeg?w=100&h=100)
![LSI・メモリ.jpg](https://images.ipros.jp/public/premium/image_category/099/387108/IPROS991212718823621968.jpg?w=100&h=100)
【分析事例】LSI・メモリ
LSI・メモリの分析事例をご紹介します
![B0285_剥離原因となる金属界面の有機物評価.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/f22/678607/IPROS86834706858458212389.jpeg?w=100&h=100)
![B0284_はんだボール表面酸化膜の三次元分布評価.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/cb3/672406/IPROS56741089204107685746.jpeg?w=100&h=100)
![D0014_XPSスペクトルデータ解析サービス.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/da9/657202/IPROS37134878764082313242.jpeg?w=100&h=100)
![B0283_レーザー顕微鏡による表面形状評価.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/b59/654351/IPROS66448177149648095970.jpeg?w=100&h=100)
![C0665_分子動力学計算によるカーボンナノチューブの曲げ変形シミュレーション.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/22b/620303/IPROS66695236816501258543.jpeg?w=100&h=100)
【分析事例】分子動力学計算によるカーボンナノチューブの曲げ変形シミュレーション_C0665
ナノ材料に外力を加えた時の形状変化、歪みエネルギーの評価が可能
最終更新日:
2021-11-26 14:28:11.0技術資料・事例集
![A0079_集束イオンビーム質量分析法.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/be6/610688/IPROS45544433161484201047.jpeg?w=100&h=100)
![A0076_電子プローブマイクロアナライザー.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/bf9/598333/IPROS11967929995133326507.jpeg?w=100&h=100)
![図2.png](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/efc/596003/IPROS60195179220180117129.png?w=100&h=100)
【分析事例】AI技術を用いたCT画像のアーチファクト低減_C0653
AI技術でCT画像のメタルアーチファクトを低減し画像解析精度を向上
最終更新日:
2022-09-14 16:06:01.0技術資料・事例集
![C0648_オイルの分析_GCMS編.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/d2e/579450/IPROS70369515353791913653.jpeg?w=100&h=100)
![C0022_Si酸化膜の膜厚評価.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/982/578438/IPROS00150682016198282057.jpeg?w=100&h=100)
![C0639_第一原理計算によるALD成膜におけるプリカーサ吸着シミュレーション.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/e6f/557262/IPROS65743366518272585086.jpeg?w=100&h=100)
第一原理計算によるALD成膜における プリカーサ吸着シミュレーション
基板上へプリカーサ吸着時の活性化エネルギー、反応熱の情報が得られます
最終更新日:
2020-12-09 14:23:32.0技術資料・事例集
![C0610_Xe-PFIBを用いた広域断面のSEM観察.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/985/535208/IPROS70469104040450220703.jpeg?w=100&h=100)
![C0583_トンネル磁気抵抗効果を示すFeMgOFe接合系の理論計算.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/8e6/504116/IPROS66163353632361478931.jpeg?w=100&h=100)
【分析事例】トンネル磁気抵抗効果を示す Fe/MgO/Fe接合系の理論計算
シミュレーションによってTMR比やスピン・電荷の様子を調べることが可能です
最終更新日:
2020-03-16 11:12:35.0技術資料・事例集
![C0581_NEB法を用いた半導体中の不純物拡散シミュレーション.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/b89/504107/IPROS06503252728078463392.jpeg?w=100&h=100)
![C0686_撥水箇所の成分分析.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/af1/690081/IPROS98429639426040717290.jpeg?w=100&h=100)
![A0080_ナノシミュレーション.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/173/691143/IPROS27463686944194022102.jpeg?w=100&h=100)
![C0696_発光寿命測定によるキャリアライフタイム評価.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/195/719404/IPROS93289782399045468710.jpeg?w=100&h=100)
【分析事例】発光寿命測定によるキャリアライフタイム評価_C0696
発光寿命からSiCのキャリアライフタイムについて知見が得られます
最終更新日:
2023-08-24 12:23:48.0技術資料・事例集
![C0699_半導体パッケージのはんだ濡れ性試験.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/209/727076/IPROS23020701535416095615.jpeg?w=100&h=100)
![B0301_SIMS分析データの再現性.jpg](https://images.ipros.jp/public/catalog/image/01/9b0/751772/IPROS31875300660004702404.jpeg?w=100&h=100)
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