一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

【分析事例】有機EL材料(OLED)のTOF-SIMSによるRGB素子深さ方向分析

最終更新日: 2023-04-20 17:39:37.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

雰囲気制御下でのGCIB(Arクラスター)を用いた有機EL層構造・劣化層の評価
分析の事例をご紹介します

関連情報

【有機EL解析に最適】TOF-SIMS新分析サービス開始
【有機EL解析に最適】TOF-SIMS新分析サービス開始 製品画像
有機ELの小さな画素など狭い領域を狙って測定を行う場合、従来のTOF-SIMS測定では深さ方向の評価が困難でした。
MSTでは測定条件を改良することで、有機成分を壊さず狭い領域の分析が可能となりました。

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