一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

【分析事例】プリント基板上有機物系異物の評価_C0080

最終更新日: 2021-05-19 17:10:27.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

カタログ発行日:2021/4/2
適切なサンプリングで異物周辺情報の影響を軽減
ラマン分析は微小異物の定性分析に有効な手法です。異物の下地情報を併せて検出するために分析が困難となる場合は、サンプリングを併用することにより分析が可能となります。
電極上異物は下地の影響のほとんど無くフラックスと同定されましたが、プリント基板上異物は異物由来の情報が取得できませんでした(図1)。下地の影響の無い無機結晶上にサンプリングを行うことで、異物の情報が得られ、異物はフラックスと同定されました(図2)。

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