一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

【分析事例】積層セラミックコンデンサ(MLCC)の加熱SSRM評価_C0694

最終更新日: 2023-05-25 10:15:30.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

カタログ発行日:2023/05/25
誘電体内の伝導パス(絶縁劣化箇所)の可視化
積層セラミックコンデンサ(MLCC)は、内部電極(金属)/誘電体層(絶縁体)/内部電極(金属)の積層構造を有するコンデンサです。MLCCの問題の一つとして高電界かつ高温下における誘電体層の絶縁劣化(低抵抗化)、つまり電極間ショートがあります。誘電体層内に形成される低抵抗な伝導パスを可視化することは絶縁劣化現象を解明する重要な手がかりとなります。本資料では、SSRM測(高電界)と加熱機構(高温)を組み合わせることで、温度変化に伴う誘電体材料の絶縁劣化を可視化した事例を紹介します。

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