日精株式会社

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セラミックデバイス グリーンシート外観検査装置

最終更新日: 2020-09-30 15:00:35.0
高精細2D検査で微細な欠陥や精密な寸法検査を実現!低温同時焼成セラミックス用

LTCC(低温同時焼成セラミックス)用のグリーンシートに
存在するシミ、異物付着といった欠陥や印刷された電極パターンに存在する
凹凸や太り、細り、異物付着等の外観検査を行う装置です。

電極パターンの位置度を検査することが可能で、グリーンシート積層前の
品質管理にご使用いただけます。

【特長】
■高精細2D検査で微細な欠陥や精密な寸法検査を実現
■高精細3D検査で微細な凹凸の検査を実現
■マルチアングル照明を用いて好適な照明環境を実現
■高速照明切替と高速画像取込みで高速検査を実現

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

基本情報

【検査項目】
<欠陥検査>
■セラミックス部
 ・キズ
 ・異物
 ・スクラッチ
 ・変色
 ・汚れ
 ・シミ
■電極部
 ・凹凸
 ・パターン上異物
 ・パターン太り
 ・パターン細り
 ・パターン断線
 ・パターンショート

<寸法検査>
 ・外形サイズ
 ・電極パターン位置度

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
用途/実績例 【用途】
■LTCC(低温同時焼成セラミックス)用のグリーンシートに存在するシミ、異物付着といった
 欠陥や印刷された電極パターンに存在する凹凸や太り、細り、異物付着等の外観検査

【対象ワーク】
■積層コンデンサ用グリーンシート
■積層インダクタ用グリーンシート
■高周波デバイス用グリーンシート 等

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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