【半導体アプリケーション】
■高速BGA計測
■高速基板検査
■高速ウェハー厚み計測
■高速反り計測
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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プレシテック・ジャパン株式会社