日本カンタム・デザイン株式会社

Nanosurf社製 走査型プローブ顕微鏡(原子間力顕微鏡 AFM・走査型トンネル顕微鏡 STM) 総合カタログ

最終更新日: 2023-11-28 14:46:03.0

多彩な測定モードに対応したコンパクトタイプ原子間力顕微鏡など多数掲載
本資料では、当社が取り扱う原子間力顕微鏡(AFM)や、
走査型トンネル顕微鏡(STM)のラインアップをまとめて紹介しています。

【掲載内容】
■ハイエンド 原子間力顕微鏡 DriveAFM
■高い拡張性・高性能 原子間力顕微鏡 CoreAFM
■コンパクトタイプ 原子間力顕微鏡 NaioAFM
■コンパクトタイプ 走査型トンネル顕微鏡 NaioSTM
■倒立顕微鏡取付可能 原子間力顕微鏡 FlexAFM(FlexBio/FPM/ANA)
■正立顕微鏡取付可能 原子間力顕微鏡 LensAFM
■Custom solution

関連情報

原子間力顕微鏡(AFM)
原子間力顕微鏡(AFM) 製品画像
【カタログ掲載ラインアップ】
・CoreAFM
・NaioAFM/STM
・FlexAFM(FlexBio/FPM/ANA)
・LensAFM
・Custom solution
・AFSEM
・PRS

※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
コンパクトAFM『NaioAFM』※デモ受付中
コンパクトAFM『NaioAFM』※デモ受付中 製品画像
【仕様】
◎スキャン範囲(分解能):70μm(1.0 nm)
◎Zノイズレベル(Static/Dynamicモード使用時):  typ.0.4nm(max.0.8nm)/typ.0.3nm(max.0.8nm)
◎搭載可能サンプルサイズ:12mm角以内/高さ3.5mmまで
◎サンプルステージ可動範囲:面内12mm
◎装置サイズ(縦横高さ):204×204×160mm
◎重量:6.5kg
◎電力:100~240VAC(30W)

【用途】
大学や専門学校におけるナノテクノロジー教育や、研究開発または品質管理の現場での表面形状計測
【半導体分野へご提案】表面検査装置・レジスト・精密位置制御
【半導体分野へご提案】表面検査装置・レジスト・精密位置制御 製品画像
【表面検査】
◆原子間力走査型電子顕微鏡(AFM&SEM in situ測定) by Quantum Design North America
◇原子間力顕微鏡(AFM) by Nanosurf
◆散乱型近接場光赤外顕微鏡(Nano-FTIR) by attocube
◇ワンショット3D測定装置 by Lyncee tec

【半導体プロセス向け】
◆マスクレス露光装置 by DMO
◇レジスト by Allresist

【精密位置制御】
◆電動リニアステージ・ロータリステージ・電動リニアアクチュエータ等 by ZABER

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