日本カンタム・デザイン株式会社

Nanosurf Customizing カタログ

最終更新日: 2023-09-08 12:27:41.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

関連情報

カスタム原子間力顕微鏡(AFM)システム
カスタム原子間力顕微鏡(AFM)システム 製品画像
【使用事例】
●シリコンウェハー
●大型サンプル
●光学レンズ
●自動ステージ
●特殊ステージ

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【半導体分野へご提案】表面検査装置・レジスト・精密位置制御
【半導体分野へご提案】表面検査装置・レジスト・精密位置制御 製品画像
【表面検査】
◆原子間力走査型電子顕微鏡(AFM&SEM in situ測定) by Quantum Design North America
◇原子間力顕微鏡(AFM) by Nanosurf
◆散乱型近接場光赤外顕微鏡(Nano-FTIR) by attocube
◇ワンショット3D測定装置 by Lyncee tec

【半導体プロセス向け】
◆マスクレス露光装置 by DMO
◇レジスト by Allresist

【精密位置制御】
◆電動リニアステージ・ロータリステージ・電動リニアアクチュエータ等 by ZABER

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