『NaioAFM』は、大学や専門学校におけるナノテクノロジー教育や、
研究開発または品質管理の現場で、表面形状を短時間に簡潔に測定したい
ユーザーに好適なコンパクトタイプ原子間力顕微鏡です。
当製品特有の“Flip-over”スキャンヘッドと専用交換ツールにより、短時間に
そしてシンプルに、カンチレバーの交換が可能。
機能性と操作性を両立し、どなたでも、どこでも使える“All-in-one”AFM装置
として、世界中で広くご利用いただいております。
【特長】
■コントローラ、XYステージ・防風シールド・防振機構が一体化
■高分解能トップビュー光学カメラ搭載、場所決め用サイドビュー観察
■ニーズに応じて測定モードの追加搭載が可能
■シンプルなカンチレバー交換:レーザや検出器の調整不要
■設置後すぐに測定可能:USBケーブルを接続しソフトウエアを立ち上げるだけ
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
【仕様(抜粋)】
■搭載可能サンプルサイズ:12mm角以内/高さ3.5mmまで
■サンプルステージ可動範囲:面内12mm
■アプローチ:4mmリニアモーター、連続またはステップ型アプローチ
■イメージングモード:Static Force、Dynamic Force、位相コントラスト、MFM、EFM
その他多彩な測定モードに対応
■消費電力:100-240VAC、50/60Hz、50W
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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用途/実績例 | 【用途】 ■大学や専門学校におけるナノテクノロジー教育や、研究開発または品質管理の現場 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
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日本カンタム・デザイン株式会社