【分析】新しい半導体開封技術(Agワイヤ・パワーデバイス)事例あり。車載向けパワーデバイス開発の活発化に伴い、デバイスの故障解析および良品解析の需要が増えております。 最終更新日: 2022-11-24 10:42:29.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
ドライ断面加工(乾式断面加工)断面イオンミリング装置を用いることで、樹脂に埋めず、水を使用しない断面試料の作製が可能! 最終更新日: 2022-11-24 10:44:13.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
ロックイン発熱解析装置『ELITE』「熱拡散によって発熱中心が分からなくなる」ことを防ぐ!微小なリーク・変化でも検出が可能 最終更新日: 2022-11-24 10:46:43.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
オスミウムコータ設備の紹介とその観察例試料の上面、側面などや、複雑な試料にも奥深く均一にコーティング可能! 最終更新日: 2022-11-24 10:47:37.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
有機材料、発光素子、薄膜・半導体の測定分析装置非接触・非破壊・顕微で測定時間1秒の顕微反射分光膜厚計や、分光蛍光光度計などを導入いたしました。 最終更新日: 2022-11-24 10:59:24.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
断面試料作製装置『IB-19510CP』高速&仕上げ加工の搭載により高スループットと高い断面品質を実現! 最終更新日: 2022-11-24 11:06:04.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
高性能解析装置によるソリューション・サービスのご案内X線CTやプラズマFIB、EBSD等でサンプルを高精度に観察するソリューション・サービスをご提供! 最終更新日: 2022-11-24 11:16:52.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
【事例紹介】質量分析計前処理を用いた定性分析、定量分析オートサンプラを用いるため、分析試料量の再現性が高く、精度の良い定量分析も可能! 最終更新日: 2022-11-24 11:18:10.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
【資料】半導体デバイスの電気的破壊試験と故障解析IGBTに対してEOS破壊とESD破壊による故障再現実験を実施!解析手順などをご紹介 最終更新日: 2022-11-24 11:28:46.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
【資料】信頼性試験-接続信頼性とマイグレーション試験接続信頼性試験法やマイグレーション試験などを、写真や図表を用いて詳しく解説! 最終更新日: 2022-11-24 11:30:08.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
高電圧,高温下で発生するエレクトロケミカルマイグレーション高電圧下で発生するエレクトロケミカルマイグレーションの対策についても検討を続けています! 最終更新日: 2022-11-24 11:31:06.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード