株式会社クオルテック

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株式会社クオルテック【新規次世代パワー半導体】製膜事業への参入

2024-01-17 00:00:00.0  

当社は、シリコンカーバイド上のルチル構造二酸化ゲルマニウム製膜に成功した
Patentix株式会社との間で、資本業務提携に関する合意書を締結することを
取締役会において決議いたしましたので、お知らせいたします。

また、この提携を機に当社は、同社の掲げる「琵琶湖半導体構想(案)」の企業連携に参画。

当社は「信頼性評価事業」において自動車、自動車部品、エレクトロニクスメーカー向けに

ニュース一覧

「経済界 Golden Pitch 2023」で審査員特別賞を受賞
株式会社クオルテックと業務提携している、Patentix株式会社が、
「経済界 Golden Pitch 2023」の「審査員特別賞」を受賞したことが
発表されました。

本ビジネスアワードは、株式会社経済界が2011年より日本の起業家を
発掘・支援する目的で開催しており、過去12年間の受…
2024-01-17 00:00:00.0企業ニュース
株式会社クオルテック×Patentix株式会社 資本業務提携を締結、調印式を実施
株式会社クオルテックは、シリコンカーバイド上のルチル構造二酸化ゲルマニウム製膜に
成功したPatentix株式会社との間で、資本業務提携を締結し、2023年12月19日(火)に
クオルテック本館にて、調印式を執り行いました。

本提携により、今後は両社の得意とする技術領域を合わせ、更なる事業…
2024-01-17 00:00:00.0企業ニュース
Patentix社との資本業務提携に関するお知らせ
当社は、シリコンカーバイド上のルチル構造二酸化ゲルマニウム製膜に成功した
Patentix株式会社との間で資本業務提携に関する合意書を締結することを
取締役会において決議いたしましたので、お知らせいたします。

また、この提携を機に当社は、同社の掲げる「琵琶湖半導体構想(案)」の
企業連携…
2024-01-17 00:00:00.0企業ニュース
【2024年1月23日(火)~24日(水)】MATE2024 第30回「エレクトロニクスにおけるマイクロ接合・実装技術」シンポジウム
1月23日(火)~24日(水)の日程で、パシフィコ横浜 会議センターにて
開催される展示会、<MATE2024 第30回「エレクトロニクスにおける
マイクロ接合・実装技術」シンポジウム>に当社の
「研究開発部 人工知能研究チーム」、「研究開発部 実装技術研究チーム」、
「環境試験センター 第…
2024-01-17 00:00:00.0セミナー・イベント
ハンマに加速度センサを取り付けることにより、3kHz以上の共振周波数測定も対応可能となりました。
【概要】
弊社所有のIMV製振動試験機(型名:i230/SA2M)では、3kHz以上の振動を印加することができませんでした。
そこで、3kHz以上の共振周波数測定に対応する場合は、インパクトハンマを用いた共振周波数の測定を行っております。

【特長】
インパクトハンマ測定
評価サンプル、…
2023-01-24 00:00:00.0企業ニュース
AFMによるnmオーダで試料表面の凹凸状態を計測することで、材料開発に役立てることができます。
【概要】
AFM(Atomic Force Microscope)は、nmオーダの針(プローブピン)を用いて試料表面の凹凸状態を計測することによって表面の粗さを測定することができます。
材料の表面をnmオーダで粗くすることによって、密着性を良くするなどの材料開発に役立てることができます。

2023-01-23 00:00:00.0企業ニュース
ねじの締め付けで適切なトルク管理が必要な試験において、各種トルク法を用いて締結評価を行います。
【概要】
トルクとは、物体を回転させる力のことです。
部品を締結する際に、ねじを回転させて締め付けると、被締結物には圧縮力、締結物には引張力が働き、部品が固定されます。
トルクは弱すぎるととねじが緩み、反対に強すぎるとねじが破損する危険性があり、適切なトルク管理が必要となります。
トルクの管…
2023-01-20 00:00:00.0企業ニュース
X線CTを使った非破壊解析【STEP/STLファイル作成にも対応】
自動車の電装化が進むにつれ、部品の採用車種や一台当たりの搭載部品点数が飛躍的に増大。開発段階においては、試作品の評価工数の短縮が、ますます要求されています。
従来、試作品の製造品質確認や信頼性評価は、破壊解析によるものが主流でしたが、工数もかかるうえに、問題が無かったとしても、一度破壊してしまった…
2022-10-20 00:00:00.0企業ニュース
20個分のサンプルの同時試験が可能となるIOL試験、空冷パワーサイクル試験について紹介します。
小型ディスクリート半導体を対象とした空冷パワーサイクル試験、IOL試験専用試験設備を設置し、試験の受託を開始しました。

小型ディスクリート系の半導体パワーデバイスのパワーサイクル試験は、JEITA ED-4701/600で試験方法が規定されています。

また、米国の自動車部品規格AEC-Q…
2022-10-18 00:00:00.0その他・お知らせ