非破壊解析技術 C-SAM(2D~3D)2次元像が標準的ですが、より視覚的・立体的に状態を捉えるために3次元化を目指しています 最終更新日: 2023-04-20 10:42:33.0 お問い合わせ/資料請求
高速動作、高感度、低ノイズを兼ね備えたEBSD検出器を設置わずか数分の高速動作、高感度、低ノイズを兼ね備えたEBSD検出器を設置しております。 最終更新日: 2023-05-01 14:30:13.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
ボンディング性評価のためのシリコンエッチング技術ワイヤーボンディング部の接合面を平面から観察!数値による評価が可能となりました 最終更新日: 2023-05-19 15:15:51.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
環境試験から車載ネットワーク評価までの一貫提案ECUテストの工数削減!BCM・メーター・空調コントローラ・ドアロックなどが評価対象です 最終更新日: 2023-06-07 15:03:01.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
プラズマFIB-SEMの加工~分析性能と実例~100μm以上でも加工可能!ソース・ゲートがある構造物まで加工・観察・分析ができます 最終更新日: 2023-06-14 17:52:08.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
X線CTの分析原理および特長とその観察例材料内部の破壊や劣化を非破壊で評価!3D画像化して検査することができます 最終更新日: 2023-06-21 14:40:29.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
X線CTを使った非破壊解析【STEP/STLファイル作成も対応】より良い観察の提案が可能!高い透過力と解像度を併せ持つX線CTを導入 最終更新日: 2023-07-05 09:28:07.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
冷間CP(クロスセクションポリッシャ)技術熱負荷試験後の試料や熱に弱い素材、試料をもCP加工可能としました! 最終更新日: 2023-07-20 10:41:09.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
株式会社クオルテック 株式上場のご挨拶2023年7月28日、東京証券取引所グロース市場(証券コード:9165)に上場いたしました 最終更新日: 2023-08-01 15:54:13.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
難めっき素材へのめっき密着さまざまな基材を用いて、アンテナ/フィルタ/機構部材などを提供することが可能 最終更新日: 2023-09-14 14:01:56.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
オスミウムコータ(導電被膜形成)設備の紹介とその観察例熱ダメージもなく、nm単位の膜厚を高い再現性で成膜できる! 最終更新日: 2023-11-02 15:05:43.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
温度サイクル試験(急速温度変化チャンバー)より市場再現性の高い評価方法が求められる!温度サイクル試験をご紹介 最終更新日: 2024-02-14 09:38:16.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法極小に絞った電子ビームを試料に照射!試料内部の原子像分布・形態などを画像化 最終更新日: 2024-02-20 09:40:20.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
促進耐候性試験:サンシャインウェザメータJIS・ISOをはじめ多くの規格に規定!安定した分光放射照度分布で試験再現性に優れる 最終更新日: 2024-05-16 11:41:32.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
解析技術:静電気破壊SiC-MOSFET/ロックイン発熱解析/プラズマFIBの活用!IR-OBIRCHで故障箇所を特定 最終更新日: 2024-05-23 16:28:54.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード