環境試験から車載ネットワーク評価までの一貫提案ECUテストの工数削減！BCM・メーター・空調コントローラ・ドアロックなどが評価対象です 最終更新日： 2023-06-07 15:03:01.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
電子部品の急速温度サイクル試験温度の変化または温度変化の繰り返しが、電子部品や機器に与える影響を確認します 最終更新日： 2023-06-07 21:14:00.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
プラズマFIB-SEMの加工～分析性能と実例～100μm以上でも加工可能！ソース・ゲートがある構造物まで加工・観察・分析ができます 最終更新日： 2023-06-14 17:52:08.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
X線CTの分析原理および特長とその観察例材料内部の破壊や劣化を非破壊で評価！3D画像化して検査することができます 最終更新日： 2023-06-21 14:40:29.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
X線CTを使った非破壊解析【STEP/STLファイル作成も対応】より良い観察の提案が可能！高い透過力と解像度を併せ持つX線CTを導入 最終更新日： 2023-07-05 09:28:07.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
冷間CP(クロスセクションポリッシャ)技術熱負荷試験後の試料や熱に弱い素材、試料をもCP加工可能としました！ 最終更新日： 2023-07-20 10:41:09.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
株式会社クオルテック 株式上場のご挨拶2023年7月28日、東京証券取引所グロース市場(証券コード：9165)に上場いたしました 最終更新日： 2023-08-01 15:54:13.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
電源回路 正サージ試験（ロードダンプ試験）それぞれの規格に合わせたサージ発生回路を構築し、試験を実施致します 最終更新日： 2023-08-24 14:09:26.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
【故障解析事例】アバランシェ破壊の再現実験内部に空洞が形成！Al電極、はんだを溶かした様子が確認できた事例をご紹介 最終更新日： 2023-08-31 16:33:31.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
TDDB(酸化膜破壊)試験寿命10年を想定した場合、試験デバイスのゲート電圧を、20V以下で使用することが必要 最終更新日： 2023-09-08 15:27:58.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
難めっき素材へのめっき密着さまざまな基材を用いて、アンテナ/フィルタ/機構部材などを提供することが可能 最終更新日： 2023-09-14 14:01:56.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
ディスプレイ製品 トータル・クオリティ・ソリューションパネル構造解析、EMC対策等パネルモジュールの品質、分析などをトータルサポート！ 最終更新日： 2023-10-16 17:48:44.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
オスミウムコータ(導電被膜形成)設備の紹介とその観察例熱ダメージもなく、nm単位の膜厚を高い再現性で成膜できる！ 最終更新日： 2023-11-02 15:05:43.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
フェムト秒グリーン・レーザ加工機のご紹介ナノ秒レーザとは異なり、パルス幅が電子-フォノン結合時間(数ピコ秒)よりも短い！ 最終更新日： 2023-12-14 11:39:57.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
試料に生じる反りやうねり、粗さの分析および測定試料全体の変化を観察する技術や知見を集積！安全に駆動することが求められます 最終更新日： 2023-12-21 11:26:27.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
アルミ電解コンデンサ充放電、リップル試験ご要望に応じて、カスタマイズした試験を実施！実環境に応じた部品評価試験 最終更新日： 2024-01-19 17:54:12.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
半導体パッケージ開封技術(Cuワイヤ・Auワイヤ)薬液ダメージ低減、高い加工位置精度！IC等のパッケージ開封サービスをご紹介 最終更新日： 2024-01-31 15:37:59.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
アバランシェ試験/連続アバランシェ試験パワー半導体の定格限界での信頼性評価や、定格オーバー条件でパワー半導体の実力を評価！ 最終更新日： 2024-02-06 10:52:23.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
温度サイクル試験(急速温度変化チャンバー)より市場再現性の高い評価方法が求められる！温度サイクル試験をご紹介 最終更新日： 2024-02-14 09:38:16.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法極小に絞った電子ビームを試料に照射！試料内部の原子像分布・形態などを画像化 最終更新日： 2024-02-20 09:40:20.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
短絡耐量試験の概要および特長パワー半導体の信頼性試験における短絡状態や試験の設計、測定回路についてご紹介 最終更新日： 2024-02-27 16:16:25.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
