最終更新日:
2022-11-24 10:59:24.0
非接触・非破壊・顕微で測定時間1秒の顕微反射分光膜厚計や、分光蛍光光度計などを導入いたしました。
クオルテックでは、有機材料、発光素子、薄膜･半導体の測定分析装置を
導入いたしました。
ターゲット膜の絶対反射率を測定し、膜厚と光学定数を精度良く計測する
「顕微反射分光膜厚計」をはじめ、非接触、非破壊で仕事関数、イオン化
ポテンシャルを測定する「光電子分光装置」や「分光蛍光光度計」など、
さまざまな測定・分析装置を取り扱っています。
【特長】
＜顕微反射分光膜厚計＞
■顕微分光で高精度な絶対反射率測定（多層膜厚、光学定数）
■1ポイント1秒以内の高速測定
■顕微下で広い測定波長範囲を実現する光学系（紫外～近赤外）
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
【導入設備】
■顕微反射分光膜厚計（メーカー：大塚電子株式会社）
■光電子分光装置（メーカー：理研計器株式会社）
■分光蛍光光度計（メーカー：日本分光株式会社）
■紫外可視近赤外分光光度計（メーカー：日本分光株式会社）
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