最終更新日:
2024-05-30 16:29:16.0
測定したい光集積回路をカスタマイズ!当社のテストソリューションをご紹介
当社は、パッシブおよびアクティブコンポーネントテストやBERテスターなど
幅広いPICテスト環境をご提供いたします。
お客様のご要望に応じて、測定したい光集積回路毎に好適な構成を
都度カスタマイズしてご利用いただけます。
ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。
【特長】
■幅広い光集積回路を、ウェハーレベル、ダイレベル、
コンポーネントレベルでのテスト環境を提供
■自動化ソフトウェア、プローブシステムから光学/電気/
パフォーマンス測定系までワンストップでご提供
※日本語版・英語版カタログをダウンロードいただけます。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
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価格帯 | お問い合わせください |
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納期 | お問い合わせください |
用途/実績例 | 【用途】 ■光集積回路(PIC)の特性テスト(IL、RL、PDL) ■スペクトル分析(波長、光パワー、OSNR等) ■機能テスト(BERT、アイダイアグラム測定等) ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
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