セブンシックス株式会社

PIC(光集積回路)テストソリューション

最終更新日: 2024-05-30 16:29:16.0
測定したい光集積回路をカスタマイズ!当社のテストソリューションをご紹介

当社は、パッシブおよびアクティブコンポーネントテストやBERテスターなど
幅広いPICテスト環境をご提供いたします。

お客様のご要望に応じて、測定したい光集積回路毎に好適な構成を
都度カスタマイズしてご利用いただけます。

ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。

【特長】
■幅広い光集積回路を、ウェハーレベル、ダイレベル、
 コンポーネントレベルでのテスト環境を提供
■自動化ソフトウェア、プローブシステムから光学/電気/
 パフォーマンス測定系までワンストップでご提供

※日本語版・英語版カタログをダウンロードいただけます。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

基本情報

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価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
用途/実績例 【用途】
■光集積回路(PIC)の特性テスト(IL、RL、PDL)
■スペクトル分析(波長、光パワー、OSNR等)
■機能テスト(BERT、アイダイアグラム測定等)

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