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2023-05-31 00:00:00.0
【TAIYO】微細欠陥の検出を強化した外観検査装置『TY-VISION M111SC』光学分解能2.5μm仕様、上市のお知らせ

製品ニュース   掲載開始日: 2023-05-31 00:00:00.0

当社は、外観検査システム「TY-VISIONシリーズ」の高性能化開発を進めており、このたび、光学分解能2.5μm仕様の光学系を搭載した外観検査装置「TY-VISION M111SC」が完成しましたのでお知らせいたします。

近年、ＤＸやＩｏＴ化のさらなる拡大及び５Ｇ通信網の普及を背景とし社会のデジタル化の進展、自動運転や電動化が進む自動車産業の変革等に伴い、半導体市場は引き続き活況を呈しております。　各種基板の品質レベルが高精細基板をはじめ、基板全体の品質レベルが高まっており、市場ニーズに応える為に「TY-VISION M111SC」を開発いたしました。
以下、添付ファイルをご参照ください。

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2.5μm 基板最終外観検査装置TY-VISION M111SC
2.5μm 基板最終外観検査装置TY-VISION M111SC 製品画像
その微細欠陥、TY-VISIONで検査してみませんか？　M111SCは光学分解能2.5μmで約10μmの欠陥もズバリ検出！

微細欠陥の検出でお困りではないですか？ 【現在ご使用中の最終外観検査機についてお聞きします】 ＊検出に満足ですか？【YES・NO】 ＊虚報は少ないですか？【YES・NO】 一つでもNOなら、TY-VISIONをお試しください。 パッケージ基板・セラミックス基板・FPCなどでトップクラスの検出性能を誇り、量産工程でも多数採用されています。 AIシステムのXAIS（ザイス）を追加することで更に劇的な虚報数低減を実現しています。 適時、デモ検査を承っておりますので、是非ご相談ください。 ※最初に基板の情報をご提供頂き実施する場合にデータと対象物をお預かりします。

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