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【プレスリリース】タカヤ株式会社 フライングプローブテスタ 新モデル「APT-2400FAPT-2600FDシリーズ」を発表

NEW   最終更新日: 2024-11-18 18:55:59.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

関連情報

フライングプローブテスタ APT-2400F / 2600FD
フライングプローブテスタ APT-2400F / 2600FD 製品画像
電子回路基板製造業界では、高性能化と小型化が進み、
限られたスペースに数多くの部品を実装することが求められ、
検査精度と効率への要求はますます高まっています。

当社の最新モデル「APT-2400F/APT-2600FDシリーズ」は、
こうした業界ニーズに応え、業界最高水準の技術を結集し開発した
画期的な検査装置です。

新モデルの主な特長
1,ハード/ソフトすべてを自社で一貫設計
2,新開発のモーターシステム・検査プロープ機構
3,液体レンズ付きCMOSカラーカメラ
4,リモートカメラ
5,検査プロープの自動クリーナー(オプション)
6,温度センサー(オプション)
7,ユニバーサルデザイン
8,幅広い業界ニーズに対応する多彩な拡張機能

※詳しくはPDF資料をダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせください。
フライングプローブテスタ APT-2400F
フライングプローブテスタ APT-2400F 製品画像
電子回路基板製造業界では、高性能化と小型化が進み、限られたスペースに数多くの部品を実装することが求められ、
検査精度と効率への要求はますます高まっています。

当社の最新モデル「APT-2400F/APT-2600FDシリーズ」は、こうした業界ニーズに応え、
業界最高水準の技術を結集し開発した 画期的な検査装置です。

新モデルの主な特長
1,ハード/ソフトすべてを自社で一貫設計
2,新開発のモーターシステム・検査プロープ機構
3,液体レンズ付きCMOSカラーカメラ
4,リモートカメラ
5,検査プロープの自動クリーナー(オプション)
6,温度センサー(オプション)
7,ユニバーサルデザイン
8,幅広い業界ニーズに対応する多彩な拡張機能

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デュアルサイドフライングプローブテスタ APT-2600FD
デュアルサイドフライングプローブテスタ APT-2600FD 製品画像
電子回路基板製造業界では、高性能化と小型化が進み、限られたスペースに数多くの部品を実装することが求められ、
検査精度と効率への要求はますます高まっています。

当社の最新モデル「APT-2400F/APT-2600FDシリーズ」は、こうした業界ニーズに応え、
業界最高水準の技術を結集し開発した 画期的な検査装置です。

新モデルの主な特長
1,ハード/ソフトすべてを自社で一貫設計
2,新開発のモーターシステム・検査プロープ機構
3,液体レンズ付きCMOSカラーカメラ
4,リモートカメラ
5,検査プロープの自動クリーナー(オプション)
6,温度センサー(オプション)
7,ユニバーサルデザイン
8,幅広い業界ニーズに対応する多彩な拡張機能

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フライングプローブテスタ APT-2400F-SL
フライングプローブテスタ APT-2400F-SL 製品画像
電子回路基板製造業界では、高性能化と小型化が進み、限られたスペースに数多くの部品を実装することが求められ、
検査精度と効率への要求はますます高まっています。

当社の最新モデル「APT-2400F/APT-2600FDシリーズ」は、こうした業界ニーズに応え、
業界最高水準の技術を結集し開発した 画期的な検査装置です。

新モデルの主な特長
1,ハード/ソフトすべてを自社で一貫設計
2,新開発のモーターシステム・検査プロープ機構
3,液体レンズ付きCMOSカラーカメラ
4,リモートカメラ
5,検査プロープの自動クリーナー(オプション)
6,温度センサー(オプション)
7,ユニバーサルデザイン
8,幅広い業界ニーズに対応する多彩な拡張機能

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デュアルサイドフライングプローブテスタAPT-2600FD-SL
デュアルサイドフライングプローブテスタAPT-2600FD-SL 製品画像
電子回路基板製造業界では、高性能化と小型化が進み、限られたスペースに数多くの部品を実装することが求められ、
検査精度と効率への要求はますます高まっています。

当社の最新モデル「APT-2400F/APT-2600FDシリーズ」は、こうした業界ニーズに応え、
業界最高水準の技術を結集し開発した 画期的な検査装置です。

新モデルの主な特長
1,ハード/ソフトすべてを自社で一貫設計
2,新開発のモーターシステム・検査プロープ機構
3,液体レンズ付きCMOSカラーカメラ
4,リモートカメラ
5,検査プロープの自動クリーナー(オプション)
6,温度センサー(オプション)
7,ユニバーサルデザイン
8,幅広い業界ニーズに対応する多彩な拡張機能

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【導入事例】EMS企業における電気検査の重要性
【導入事例】EMS企業における電気検査の重要性 製品画像
【フライングプローブテスタ導入のメリット】
仕様変更への即応性:
治具レス(治具不要)テスタの活用により、設計変更に迅速に対応可能。
試作から量産までのプロセスをスムーズに進行。

高品質のものづくり:
試作段階から高品質を追求することで、量産時の不良率を低減。
温度管理が重要なハンダ印刷やリフロー工程の適切性を検証可能。

コスト削減:
治具再作成のコストや時間を削減。
量産データの事前確認や検証により、量産時の不良対応コストを削減。

ミスチェック防止:
部品交換時のリワーク工程におけるミスや配線不良を早期に検出。
試作や量産工程の各種プロファイル(温度、電気特性など)が仕様に適合しているかを電気的に確認。
【導入事例】半導体製造装置における高密度基板検査
【導入事例】半導体製造装置における高密度基板検査 製品画像
【フライングプローブテスタ導入のメリット】
IEC60384-1対応検査:
フライングプローブテスタを用いて、IEC60384-1の要求事項(容量値、耐電圧、リーク電流、絶縁抵抗など)に準拠した検査を実施。
国際基準に基づいた固定コンデンサやその他電子部品の特性検査が可能。

狭ピッチ対応のフライングプローブテスタ:
0.15mmピッチのプロービングが可能で、IEC60384-1の厳密な測定基準にも対応。
高精度な測定技術により、狭ピッチ・多層基板の検査をカバー。

高い柔軟性:
治具不要で、設計変更や製造プロセスの変更に迅速に対応可能。
少量生産やプロトタイプ基板でも短期間での検査実施が可能。

規格準拠での信頼性向上:
IEC60384-1に準拠することで、国際市場での製品信頼性を強化。
規格適合性を保証することで、顧客要求に対応した品質保証が可能。

検査カバレッジの向上:
狭ピッチ部品や多層基板の内部配線まで詳細に検査可能。
微細な不良(短絡、開放、抵抗値異常など)の検出を実現。
【導入事例】通信インフラ・サーバー向け大型基板の検査
【導入事例】通信インフラ・サーバー向け大型基板の検査 製品画像
【フライングプローブテスタ導入のメリット】
治具不要による効率化:
治具レス検査の導入により、大型基板でも治具製作・保管が不要となり、コスト削減を実現。
基板サイズに依存せず柔軟な検査が可能。

大型基板特有の課題に対応:
広範囲な検査が可能な装置を用いることで、基板全域にわたる確実な検査を実施。
大型基板の取り扱いに特化した設備で段取り時間を短縮。

検査データの可視化とトレーサビリティ:
部品や検査点ごとに検査結果を数値化し、品質管理を詳細に実施。
不良箇所を特定しやすく、品質向上につながる。

短納期対応:
設計変更や新規製品に対して、迅速に検査対応を行える。
製品立ち上げ期間を短縮し、スピードが求められる市場ニーズに応える。
【導入事例】医療機器向け大型基板の検査
【導入事例】医療機器向け大型基板の検査 製品画像
【フライングプローブテスタ+バウンダリスキャン連動導入のメリット】
バウンダリースキャン技術との連携:
バウンダリースキャン技術をAPTの検査フローに組み込むことで、AOIやAPTでは検知が難しいBGAの下部や内部配線不良を非接触で検出。
JTAG対応デバイス間の接続状態を検証し、配線切れや短絡を高精度で検出。

AOIの補完:
AOIで見逃しがちな内部配線や隠れた接続不良をAPTやバウンダリースキャンで補完。
AOIで検出した外観不良箇所をAPTやバウンダリースキャンで再確認し、虚報や見落としを防止。

大型基板や高コンポーネント基板への対応:
APTとバウンダリースキャン技術の併用で、物理プロービングと非接触スキャンの特性を活かし、大型基板全域を効率的にカバー。
コンポーネントの高さや多層基板の内部特性に左右されない柔軟な検査を実現。

コスト削減と効率化:
治具不要のAPTとバウンダリースキャンの連携により、治具製作・保管コストを削減。
AOIでの視覚的検査とAPT/バウンダリースキャンの電気特性検査を分業することで検査効率を向上。
【導入事例】発電・電力システム向け基板検査
【導入事例】発電・電力システム向け基板検査 製品画像
【フライングプローブテスタ導入のメリット】
AOIを補完する電気的検査:
AOIで検査が困難な手挿入部品や大型ディスクリート部品をAPT(フライングプローブテスタ)で電気的に検査。
電源ラインの部品配置や極性、ショート・ブリッジの有無を精密にチェックし、通電前に不良箇所を特定。

高信頼性の品質保証:
電気特性の検査により、誤挿入や極性不良を防止。
通電試験前に基板の不具合を未然に防ぎ、基板破損のリスクを低減。

廃棄基板の削減:
通電試験中に発生する部品破損や基板破壊を最小化。
不良基板の排除により、廃棄コストを削減し、製品歩留まりを向上。

ディスクリート部品への対応:
手挿入部品や大型部品の物理的状態を検査し、AOIとAPTの併用で検査カバレッジを最大化。
大型基板や複雑な回路設計にも柔軟に対応。
【導入事例】コンシューマー製品向け基板検査
【導入事例】コンシューマー製品向け基板検査 製品画像
【フライングプローブテスタ導入のメリット】
簡便な仮装着による効率的な検査:
両面テープを貼付したベアボードにチップ部品を仮装着し、電極に接触させることで電気特性の定数検査を実施。
仮装着方式により、実装機や基板への直接的な負担をかけずに検査可能。

人為的ミスの排除:
人の手作業や目視に頼ることなく、機械による正確で短時間の検査を実現。
実装前段階での検査により、ロット全体の不良リスクを低減。

プログラム確認の強化:
マウンタのプログラムと部品の一致を検証し、実装プログラムミスを未然に防止。
機種切り替え時のプログラムエラーによる不良発生を抑制。

量産工程での安定性向上:
部品定数検査により、実装工程の安定性を確保。
初期設定ミスや工程変更時の不良品流出を防止し、生産歩留まりを向上。
【導入事例】自動車基板、車載基板の不良解析
【導入事例】自動車基板、車載基板の不良解析 製品画像
【フライングプローブテスタ導入のメリット】
フライングプローブテスタの活用:
APT(フライングプローブテスタ)を使用することで、非接触で基板の電気特性を詳細に解析可能。
ファンクションテストで判定できなかった微細な不良(短絡、開放、抵抗値異常など)を検出。

不良箇所の迅速特定:
回路内の特定ポイントに直接アクセスし、問題箇所を短時間で特定。
回路全体をスキャンすることで、物理的な損傷や設計ミスを早期に発見。

廃棄基板の削減:
不良箇所を特定し、修理が可能な場合は基板を修復。
修復不可能な基板を最小限に抑え、廃棄コストを削減。

高度な解析をサポート:
自動車特有の過酷な使用環境(高温、多湿、振動)による不良解析に適したデータを取得。
実際の動作条件を模擬した検査で、問題の再現性を確認。
【導入事例】ライティング(LED照明)向け基板検査
【導入事例】ライティング(LED照明)向け基板検査 製品画像
【フライングプローブテスタ導入のメリット】
作業者負担の軽減:
カラーセンサーによる自動検査で、作業者による目視確認が不要。
自動化により、作業効率を向上し、疲労やミスの発生を防止。

判定基準の標準化:
数値比較による明確な判定基準を設定することで、検査結果に一貫性を持たせる。
過検出や見逃しを防ぎ、安定した品質を確保。

高精度な特性検査:
LEDの色温度、輝度、波長特性を正確に測定し、基準値と比較。
微細な色味や輝度の差異を検出し、不良品を早期に排除。

データ保存とトレーサビリティの向上:
検査データを記録・保存し、将来的な品質保証やトラブルシューティングに活用可能。
顧客要求への迅速な対応を実現。
【導入事例】航空宇宙・防衛分野向け基板検査
【導入事例】航空宇宙・防衛分野向け基板検査 製品画像
【フライングプローブテスタ導入のメリット】
治具不要の柔軟な検査:
フライングプローブテスタを使用することで、治具を作成することなく即座に検査を実施可能。
検査プログラムを作成するだけで、設計変更や製品仕様の違いにも迅速に対応。

AOI・XOI・ファンクションテストの補完:
AOIやファンクションテストで検出できない不良(隠れた短絡や接続不良)を高精度な電気検査で補完。
少量生産基板でも高い品質基準を維持可能。

高信頼性の品質保証:
測定値や検査日付などを保存し、トレーサビリティ資料として容易に管理・検索可能。
検査データを基に、将来的なメンテナンスや品質保証に活用。

コスト効率の向上:
治具の設計・製作コストを削減し、少量生産基板においてもコストパフォーマンスを最適化。
不良品の流出防止により、再検査や修正にかかるコストを削減。
産業機器事業のご紹介
産業機器事業のご紹介 製品画像
タカヤは、日本を代表するフライングプローブテスタのメーカーとして、世界各国で高い評価をいただいています。その活躍の場は、家電業界だけではなく、高い品質基準を求められる医療機器業界や自動車業界、また参入障壁の非常に高い航空・宇宙産業など幅広い分野にわたっております。

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