当社は、露点計をはじめとした計測器・校正器を幅広く取り扱っています。
今回はラインアップの中から半導体業界向けの製品をご紹介します。
【製品ラインアップ】
■CRDS(キャビティリングダウン分光法)簡易型微量分析計「Spark H2O」
測定濃度0~2000ppm、測定精度±4% or 検出下限
【水分量の無償測定を実施中です】
微量分析計「Spark H2O」を使用した測定を無償で承ります。
以下の「お問い合わせ」よりお申し込みください。
※環境によって測定ができない場合がございます。予めご了承ください。
■オンライン露点計「TK-100ON」
■高分子式露点計「TE-660TR」
■ミラー(鏡面冷却)式露点計「MBW973」
■風速トランスミッター「EE671」
■ガルバニ式酸素濃度計「2001LC」
■温湿度計「EE310」「EE08」「EE061」
■低露点校正器「FPG」
■温湿度校正器「CGS240」
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
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価格帯 | お問い合わせください |
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納期 | お問い合わせください |
用途/実績例 | ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
お問い合わせ
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株式会社テクネ計測