『HVUαシリーズ』は、J-RAS株式会社製の高電圧絶縁信頼性評価装置です。
数十nsecの高速検出回路を全CHに搭載し、より進化した信頼性試験を実現します。
100n秒以下の高速イベント計測機能で部分放電も検出。
CH個別電源搭載&CH個別制御で全CHに異なる印加電圧設定が可能です。
機械式リレーによるスキャンが無いので連続試験中の故障やトラブル無し。
トライアキシャルケーブルによるアクティブガードで低ノイズ計測を実現します。
【特長】
■100n秒以下の高速イベント計測機能で部分放電も検出
■CH個別電源搭載&CH個別フィードバックで各サンプルに安定した電圧印加
■短絡検出回路のCH個別搭載で瞬間的なサンプル短絡にも追従
■専用ソフトウェアによりグラフ表示やデータ収録可能
■5チャンネル単位で需要に応じてシステム構成可能
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
【その他の特徴】
■5000V の高電圧出力
■高速検出回路:絶縁劣化の兆候を捉える
■抵抗値データと同時計測も可能
■CH個別電源搭載&CH個別制御で全CHに異なる印加電圧設定が可能
■機械式リレーによるスキャンが無いので連続試験中の故障やトラブル無し
■トライアキシャルケーブルによるアクティブガードで低ノイズ計測を実現(計測側)
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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用途/実績例 | 【用途】 ■HV、EV カー向け部品等の高電圧デバイス・搭載基板の試験に ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
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