ナノメートルオーダの微小変化をリアルタイムにて測定可能な光干渉計測法システムです。
粗面物体をレーザで照射した際、発生する散乱場（レーザスペックル）の統計が、完全にランダムであることを統計的な意味での基準とした、光学素子の精度や測定対象による制限を受けない新しい光干渉計測法システムです。
【製品特長】
〇サブナノオーダの計測が可能
〇非接触・無侵襲測定
〇植物の生長や樹木の変化などの生体に応用可能
※詳しくはPDFダウンロード、またはお問い合わせください。
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| 型番・ブランド名 | カタログNo.711 |
| 用途／実績例 | - |
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株式会社東洋精機製作所
