株式会社宇部情報システム

【大反響セミナー資料】「非破壊」×「全数検査」で素材内部の微細欠陥を検出する 

最終更新日: 2024-12-24 18:01:42.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

カタログ発行日:2023/10/19
超音波を用いた内部欠陥の検査手法について、特長や課題、全数検査実現に向けた最適化手法について、実際の事例をご紹介します。
▪「品質要求の厳格化により、非破壊検査のニーズが高まっている」                 
近年の製造業、特に半導体や電子部品では、基板やセラミック素材製品などの内部欠陥が、デバイスの動作不良や寿命短縮に大きな影響を与えるようになってきました。高い品質要求に応えるために非破壊検査を全数検査へ移行するといった要望も増えています。

▪「非破壊検査を導入するには知見が必要になる」                                               
しかしながら、非破壊検査には多くの手法があり、製品の特性に合わせて適切な方法を選択する必要があります。また、非破壊検査において生産性を落とさず全数検査を実施するには、ソフトウェアや装置などを総合的に考慮した検査システムを構築することが重要です。

▪「『非破壊』×『全数検査』を実現するには」
この資料では、超音波を用いた内部欠陥の検査手法について、特長や欠陥検知方法、現場運用の課題ついて掲載しております。また、非破壊検査の全数検査手法について、当社が検査装置の設計から組立まで一気通貫で対応してきた実際の事例をご紹介します。

関連情報

事例集プレゼント!画像処理システム構築ソリューション
事例集プレゼント!画像処理システム構築ソリューション 製品画像
【検査ソフトウェア】
◎超音波探傷システム ◎パターン外観検査システム ◎3D高さ計測システム
◎寸法測定システム  ◎原反検査システム     ◎容器外観検査システム

【検査装置・検査データ収集システム】
◎超音波探傷検査装置   ◎半自動外観検査装置 ◎卓上型検査装置
◎基板寸法&外観検査装置 ◎自動検査装置    ◎検査データ収集システム
◎リニア搬送検査装置

※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
超音波探傷検査|非破壊で素材内部の微細な欠陥を検出
超音波探傷検査|非破壊で素材内部の微細な欠陥を検出 製品画像
【機能】
■エコー波形表示(縦横の断面状況を確認できる)
■擬似カラー表示
■表面追従型ゲート機能で、反ったワークも検査可能
■超音波画像を作成
■超音波画像を製画像処理で検査し、自動で不良を検出

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
事例集プレゼント!画像検査システム『URCP』
事例集プレゼント!画像検査システム『URCP』 製品画像
【URCPの特徴】
■ワークや検出内容にあわせて、多種多様なカメラ・照明機器に対応
 ・カメラ一例:主要メーカに対応
  〈エリアセンサカメラ〉
  1M、2M、5M、16M、29M、45M
  〈ラインセンサカメラ〉
  1、024、2、048、4、096、8、192、16、384画素
 ・照明一例:
  〈LED正面電源〉
   CCS PD3シリーズ(パラレル、イーサネット)
     PD2シリーズ、PSB3シリーズ
■画像補正・粒子解析・フィルタなど豊富な解析処理機能をご用意。
 ・解析機能一例
  〈画像補正〉
  アフィン変換、拡大、縮小、回転など
  〈粒子解析〉
  面積、外接矩形、主軸長、副軸長、周囲長など
  〈フィルタ〉
  先鋭化、コントラスト強調、膨張、収縮、細線化、2値化など
■検査・解析結果をダッシュボードに時系列データとして、
 グラフィカルに可視化。表示項目や、レイアウトは自由に調整可能。

■筐体寸法
幅:292mm
奥行:262mm
高さ:155mm
全数検査対応!UISの超音波探傷システム
全数検査対応!UISの超音波探傷システム 製品画像
超音波波形データを画像化し画像処理技術にて欠陥を検出するシステムです。
画像処理装置、光学機器、検査ソフトウェア、検査装置を組み合わせてのご提案をしております。画像検査に関する全てをお任せください。
事例集プレゼント!画像検査システム『URCP』*
事例集プレゼント!画像検査システム『URCP』* 製品画像
【URCPの特徴】
■ワークや検出内容にあわせて、多種多様なカメラ・照明機器に対応
 ・カメラ一例:主要メーカに対応
  〈エリアセンサカメラ〉
  1M、2M、5M、16M、29M、45M
  〈ラインセンサカメラ〉
  1、024、2、048、4、096、8、192、16、384画素
 ・照明一例:
  〈LED正面電源〉
   CCS PD3シリーズ(パラレル、イーサネット)
     PD2シリーズ、PSB3シリーズ
■画像補正・粒子解析・フィルタなど豊富な解析処理機能をご用意。
 ・解析機能一例
  〈画像補正〉
  アフィン変換、拡大、縮小、回転など
  〈粒子解析〉
  面積、外接矩形、主軸長、副軸長、周囲長など
  〈フィルタ〉
  先鋭化、コントラスト強調、膨張、収縮、細線化、2値化など
■検査・解析結果をダッシュボードに時系列データとして、
 グラフィカルに可視化。表示項目や、レイアウトは自由に調整可能。

■筐体寸法
幅:292mm
奥行:262mm
高さ:155mm

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