◎超音波探傷システム ◎パターン外観検査システム ◎3D高さ計測システム
◎寸法測定システム ◎原反検査システム ◎容器外観検査システム
【検査装置・検査データ収集システム】
◎超音波探傷検査装置 ◎半自動外観検査装置 ◎卓上型検査装置
◎基板寸法&外観検査装置 ◎自動検査装置 ◎検査データ収集システム
◎リニア搬送検査装置
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上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。
カタログ発行日:2023/10/19
超音波を用いた内部欠陥の検査手法について、特長や課題、全数検査実現に向けた最適化手法について、実際の事例をご紹介します。
▪「品質要求の厳格化により、非破壊検査のニーズが高まっている」
近年の製造業、特に半導体や電子部品では、基板やセラミック素材製品などの内部欠陥が、デバイスの動作不良や寿命短縮に大きな影響を与えるようになってきました。高い品質要求に応えるために非破壊検査を全数検査へ移行するといった要望も増えています。
▪「非破壊検査を導入するには知見が必要になる」
しかしながら、非破壊検査には多くの手法があり、製品の特性に合わせて適切な方法を選択する必要があります。また、非破壊検査において生産性を落とさず全数検査を実施するには、ソフトウェアや装置などを総合的に考慮した検査システムを構築することが重要です。
▪「『非破壊』×『全数検査』を実現するには」
この資料では、超音波を用いた内部欠陥の検査手法について、特長や欠陥検知方法、現場運用の課題ついて掲載しております。また、非破壊検査の全数検査手法について、当社が検査装置の設計から組立まで一気通貫で対応してきた実際の事例をご紹介します。
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株式会社宇部情報システム