株式会社宇部情報システム

全数検査対応!UISの超音波探傷システム

最終更新日: 2024-12-24 17:59:30.0
全数検査のご希望はありませんか?UISなら自動化ニーズにお応えします。

検査品を水没させた状態で超音波波形データを取得し、非破壊で素材内部の微細な欠陥を検出します。

基本情報

超音波波形データを画像化し画像処理技術にて欠陥を検出するシステムです。
画像処理装置、光学機器、検査ソフトウェア、検査装置を組み合わせてのご提案をしております。画像検査に関する全てをお任せください。

価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
用途/実績例 検査対象:電子部品(コンデンサ、基板)、半導体、鉄鋼・金属  など
検査内容:ボイド、クラック、電極高さ、内部剥離  など

お問い合わせ

下記のフォームにお問い合わせ内容をご記入ください。
※お問い合わせには会員登録が必要です。

至急度  必須
ご要望  必須
目的  必須
添付資料
お問い合わせ内容 
【ご利用上の注意】
お問い合わせフォームを利用した広告宣伝等の行為は利用規約により禁止しております。
はじめてイプロスをご利用の方 はじめてイプロスをご利用の方 すでに会員の方はこちら
イプロス会員(無料)になると、情報掲載の企業に直接お問い合わせすることができます。
メールアドレス

※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。

株式会社宇部情報システム

製品・サービス一覧(82件)を見る