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次世代半導体の検査・解析に最適な工業用X線CT「CA20」をご紹介！
2024-12-06 00:00:00.0
次世代半導体の品質検査や内部構造の解析に特化した新製品「CA20」をご紹介いたします。
CA20は、最先端の工業用X線CT技術を搭載し、微細な欠陥の検出や複雑な内部構造の解析を高精度かつ効率的に実現します。
次世代半導体業界が直面する厳しい品質要件を満たし、生産工程の最適化や製品の信頼性向上に大きく貢献するソリューションとして、ぜひその可能性をご確認ください。
会場では弊社の専門スタッフが常駐…
