株式会社アントンパール・ジャパン

<カタログ>多目的X線散乱装置 SAXSpoint 5.0

最終更新日: 2021-09-29 17:02:38.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

1台で超小角から広角まで測定できる多目的X線散乱システム
優れた小角分解能とX線強度
SAXSモード: qmin = 0.01 nm^-1
最大観測サイズ: 粒子径 314 nm, Braggスペース 628 nm
Primux 100 micro: Cu, Mo, Ag, Cr, メンテナンスフリー
あらゆるサンプルや測定条件に対応

関連情報

小角X線散乱装置 SAXSpace
小角X線散乱装置 SAXSpace 製品画像
・測定モード: SAXS、 WAXS、 BioSAXS、 SEC-SAXS
・q範囲: 0.03 nm^-1 ~ 24.5 nm^-1 (※1)
・観測可能な面間隔: 0.15 nm ~ 209 nm
・X線源: Primux 3000 sealed tube X-ray source (Cu、 Mo)
・検出器:Dectris社製 Mythen2 R 1K
・温度範囲: -150℃ ~ +600℃
・雰囲気: 真空 / 空気 (乾燥・調湿) / 不活性ガス
(※1 オプションの2次元検出器搭載時は最大40.7 nm^-1)
・フットプリント (L x W):1800 x 900 mm

【様々なアクセサリー】
・-150 °C~+600°Cの温度制御用ステージ
・GISAXSステージ
・延伸ステージ
・加圧ステージ
・湿度制御ステージ
・回転モジュール
・SEC-SAXSシステム
・オートサンプラー(最大192検体)
In-situ XRD用 サンプルステージ
In-situ XRD用 サンプルステージ 製品画像
・温度範囲: 下記またはカタログを参照ください。
・雰囲気: 空気、不活性ガス、真空(一部、反応性ガスに対応)
・測定配置:反射または透過(製品ごとに異なります)
・製品の詳しい情報はお問い合わせください

【ラインナップ】
直接加熱方式
・HTK2000N (室温 ~ 2300℃)
・HTK16N (室温 ~ 1600℃)
・TTK600 (-190 ~ 600℃)
・CHC plus+ (-180 ~ 400℃、 湿度制御可能)
・BTS500 (室温 ~ 500℃、 卓上XRDに対応)
・BTS150 (-10 ~ 150℃、 卓上XRDに対応)
・DHS1100 (室温 ~ 1100℃、 4軸回折計に対応)
・DCS500 (-180 ~ 500℃、 4軸回折計に対応)

非接触加熱方式
・HTK1200N (室温 ~ 1200℃、 キャピラリー装着可能)
・XRK900 (室温 ~ 900℃、 反応性ガス使用可能)

各製品の特徴はカタログをご覧ください。
多目的X線散乱装置 SAXSpoint 5.0
多目的X線散乱装置 SAXSpoint 5.0 製品画像
・測定モード: SAXS、 WAXS、 USAXS、 GISAXS、 BioSAXS、 RheoSAXS、 UV-VisSAXS、 etc
・q範囲: 0.01 nm^-1 ~ 49.3 nm^-1
・観測可能な面間隔: 0.12 nm ~ 628 nm
・X線源:Primux 100 micro microfocus X-ray source (Cu、 Mo、 Ag、 Cr)
・検出器:Dectris社製 Eiger2 R 1M
・温度範囲: -150℃ ~ +600℃
・雰囲気: 真空 / 空気 (乾燥・調湿) / 不活性ガス
・フットプリント (L x W) : 3600 x 900 mm

【様々なアクセサリー】
・-150 °C~+600°Cの温度制御用ステージ
・GISAXSステージ
・延伸ステージ
・加圧ステージ
・せん断ステージ
・湿度制御ステージ
・RheoSAXSモジュール
・USAXSモジュール
・回転モジュール
・バッテリーセル
・FTIRセル
・UV-Visセル
・SEC-SAXSシステム
・オートサンプラー(最大192検体)
RheoSAXSモジュール
RheoSAXSモジュール 製品画像
・q範囲: SAXSpoint 5.0の性能を参照ください。
・温度範囲: -10℃ ~ 90℃
・対応試料 :水を分散媒とする各種溶液、ペースト

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