＜カタログ＞多目的X線散乱装置 SAXSpoint 5.0 製品カタログ | カタログ | アントンパール・ジャパン

＜カタログ＞多目的X線散乱装置 SAXSpoint 5.0

最終更新日: 2021-09-29 17:02:38.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

1台で超小角から広角まで測定できる多目的X線散乱システム
優れた小角分解能とX線強度
SAXSモード: qmin = 0.01 nm^-1
最大観測サイズ：粒子径 314 nm, Braggスペース 628 nm
Primux 100 micro: Cu, Mo, Ag, Cr, メンテナンスフリー
あらゆるサンプルや測定条件に対応

関連情報

小角X線散乱装置 SAXSpace

・測定モード： SAXS、 WAXS、 BioSAXS、 SEC-SAXS
・q範囲： 0.03 nm^-1 ～ 24.5 nm^-1 (※1)
・観測可能な面間隔： 0.15 nm ~ 209 nm
・Ｘ線源： Primux 3000 sealed tube X-ray source (Cu、 Mo)
・検出器：Dectris社製 Mythen2 R 1K
・温度範囲： -150℃ ~ +600℃
・雰囲気：真空 / 空気 (乾燥・調湿) / 不活性ガス
（※1 オプションの2次元検出器搭載時は最大40.7 nm^-1）
・フットプリント (L x W)：1800 x 900 mm

【様々なアクセサリー】
・-150 °C～+600°Cの温度制御用ステージ
・GISAXSステージ
・延伸ステージ
・加圧ステージ
・湿度制御ステージ
・回転モジュール
・SEC-SAXSシステム
・オートサンプラー（最大192検体）

In-situ XRD用サンプルステージ

・温度範囲：下記またはカタログを参照ください。
・雰囲気：空気、不活性ガス、真空（一部、反応性ガスに対応）
・測定配置：反射または透過（製品ごとに異なります）
・製品の詳しい情報はお問い合わせください

【ラインナップ】
直接加熱方式
・HTK2000N (室温 ~ 2300℃)
・HTK16N (室温 ~ 1600℃)
・TTK600 (-190 ~ 600℃)
・CHC plus+ (-180 ~ 400℃、湿度制御可能)
・BTS500 (室温 ~ 500℃、卓上XRDに対応)
・BTS150 (-10 ~ 150℃、卓上XRDに対応)
・DHS1100 (室温 ~ 1100℃、 4軸回折計に対応)
・DCS500 (-180 ~ 500℃、 4軸回折計に対応)

非接触加熱方式
・HTK1200N (室温 ~ 1200℃、キャピラリー装着可能)
・XRK900 (室温 ~ 900℃、反応性ガス使用可能)

各製品の特徴はカタログをご覧ください。

多目的X線散乱装置 SAXSpoint 5.0

・測定モード： SAXS、 WAXS、 USAXS、 GISAXS、 BioSAXS、 RheoSAXS、 UV-VisSAXS、 etc
・q範囲： 0.01 nm^-1 ～ 49.3 nm^-1
・観測可能な面間隔: 0.12 nm ~ 628 nm
・Ｘ線源：Primux 100 micro microfocus X-ray source (Cu、 Mo、 Ag、 Cr)
・検出器：Dectris社製 Eiger2 R 1M
・温度範囲: -150℃ ~ +600℃
・雰囲気: 真空 / 空気 (乾燥・調湿) / 不活性ガス
・フットプリント (L x W) : 3600 x 900 mm

【様々なアクセサリー】
・-150 °C～+600°Cの温度制御用ステージ
・GISAXSステージ
・延伸ステージ
・加圧ステージ
・せん断ステージ
・湿度制御ステージ
・RheoSAXSモジュール
・USAXSモジュール
・回転モジュール
・バッテリーセル
・FTIRセル
・UV-Visセル
・SEC-SAXSシステム
・オートサンプラー（最大192検体）

RheoSAXSモジュール

・q範囲： SAXSpoint 5.0の性能を参照ください。
・温度範囲： -10℃ ~ 90℃
・対応試料：水を分散媒とする各種溶液、ペースト

物性測定・分析機器　アントンパール総合カタログ

材料の分析、合成、サンプル調製、ならびにプロセス計測用の高品質・高精度な製品を開発製造、最高水準の精度と卓越した剛性で高く評価されており、全世界の産業・研究分野で広く使用されています。

【主な製品カテゴリ】
○密度・比重および濃度の測定
○飲料の分析
○旋光度測定
○屈折率測定
○粘度測定
○粘弾性測定
○プロセス機器
○マイクロ波合成技術
○前処理装置
○固体表面分析
○X線構造解析装置

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