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2024-03-28 00:00:00.0
フィルムも測れる!?今さら聞けない分散不要のゼータ電位測定 - 流動電位法<6/21(金)14:00開催>

フィルムも測れる!?今さら聞けない分散不要のゼータ電位測定 - 流動電位法<6/21(金)14:00

フィルムも測れる!?今さら聞けない分散不要のゼータ電位測定 - 流動電位法<6/21(金)14:00

セミナー・イベント   掲載開始日: 2024-03-28 00:00:00.0

普段何気なく使っている粒子径やゼータ電位を測定する装置の「いまさら聞けない」話をご紹介するウェビナーです。

第4回はフィルムも測れる！？分散不要のゼータ電位測定 - 流動電位法。

数式はなるべく使わずに、わかりやすさを優先していきますので
粒子径やゼータ電位の測定に携わる方の復習にもピッタリです。

「詳細・申込み」ボタンを押してウェビナーの詳細情報をご覧ください。
みなさまのご参加を心よりお待ちしております！

開催日時 2024年06月21日（金）
14:00 ～ 14:30
Cisco Webexを使用
参加費 無料

関連製品情報

固体表面ゼータ電位測定装置　SurPASS 3　バイアル用
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表面特性の分析を直接評価。表面特性の解明と改良、及び新しい材料開発に貢献します！

流動電位及び流動電流の測定原理に基づき、バイアル内壁のゼータ電位を評価します。 ゼータ電位は、固体/液体界面での表面電荷に関係しており、表面化学特性(pH滴定)及び固相-液相間の吸着過程の重要な指標になります。 SurPASS３では、次の情報を得ることができます。 ・表面が液体に接触したときの帯電挙動 ・pH及びイオン強度の影響 ・表面化学特性に特有の等電点 ・特定の表面官能基の存在 ・表面改質の評価 ・添加剤の表面への吸着と脱着の挙動
固体表面ゼータ電位測定装置SurPASS 3　コンタクトレンズ用
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流動電位及び流動電流の測定原理に基づき、ソフトコンタクトレンズのゼータ電位を評価します。 ソフトコンタクトレンズ用測定セルは、ソフトコンタクトレンズの機能を低下させずにゼータ電位分析を行えます。模型眼の上にレンズを置き、直接アクセスしてゼータ電位分析を行えます。 ・ソフトコンタクトレンズのゼータ電位分析が可能 ・補助器具を使用せずに、コンタクトレンズを模型眼の凸面に設置 SurPASS３では、次の情報を得ることができます。 ・表面が液体に接触したときの帯電挙動 ・pH及びイオン強度の影響 ・表面化学特性に特有の等電点 ・特定の表面官能基の存在 ・表面改質の評価 ・添加剤の表面への吸着と脱着の挙動
固体表面ゼータ電位測定装置　SurPASS 3　天然／化学繊維用
固体表面ゼータ電位測定装置　SurPASS 3　天然／化学繊維用 製品画像
表面特性の分析を直接評価。表面特性の解明と改良、及び新しい材料開発に貢献します！

流動電位及び流動電流の測定原理に基づき、天然 / 化学繊維のゼータ電位を評価します。 ゼータ電位は、固体/液体界面での表面電荷に関係しており、表面化学特性 (pH滴定) 及び固相-液相間の吸着過程の重要な指標になります。 SurPASS３では、次の情報を得ることができます。 ・表面が液体に接触したときの帯電挙動 ・pH及びイオン強度の影響 ・表面化学特性に特有の等電点 ・特定の表面官能基の存在 ・表面改質の評価 ・添加剤の表面への吸着と脱着の挙動
固体表面ゼータ電位測定装置　SurPASS 3　コアサンプル用
固体表面ゼータ電位測定装置　SurPASS 3　コアサンプル用 製品画像
表面特性の分析を直接評価。表面特性の解明と改良、及び新しい材料開発に貢献します！

流動電位及び流動電流の測定原理に基づき、コアサンプルのゼータ電位を評価します。 コアサンプル用測定セルは、一般的なコアサンプルを格納し、コアサンプルの断面と外周面におけるゼータ電位分析が可能になります。岩石表面の掘削流体などの相互作用について研究することができ、この情報はEORプロセスの改善に用いられます。 EOR試験で使用されるコアサンプルの非破壊分析 ・コアサンプルの断面と外周面におけるゼータ電位分析 ・岩石表面と相互作用する掘削流体などの特性を評価する接線測定モード ・代替技術に比べて非常に効率的: ゼータ電位分析のためにコアサンプルを微粉末に破砕する必要がありません ・コアサンプルの長手方向のゼータ電位勾配の評価 SurPASS３では、次の情報を得ることができます。 ・表面が液体に接触したときの帯電挙動 ・pH及びイオン強度の影響 ・表面化学特性に特有の等電点 ・特定の表面官能基の存在 ・表面改質の評価 ・添加剤の表面への吸着と脱着の挙動
固体表面ゼータ電位測定装置　SurPASS 3　中空糸膜用
固体表面ゼータ電位測定装置　SurPASS 3　中空糸膜用 製品画像
表面特性の分析を直接評価。表面特性の解明と改良、及び新しい材料開発に貢献します！

流動電位及び流動電流の測定原理に基づき、中空糸膜内面のゼータ電位を評価します。 中空糸膜用測定セルは、内面分析用の中空糸膜が組み込まれたミニモジュールに対応します。この測定セルの代表的な用途は、透析膜内面の改質に関する研究です。 SurPASS３では、次の情報を得ることができます。 ・表面が液体に接触したときの帯電挙動 ・pH及びイオン強度の影響 ・表面化学特性に特有の等電点 ・特定の表面官能基の存在 ・表面改質の評価 ・添加剤の表面への吸着と脱着の挙動
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表面特性の分析を直接評価。表面特性の解明と改良、及び新しい材料開発に貢献します！

流動電位及び流動電流の測定原理に基づき、フレキシブルチューブ内面のゼータ電位を評価します。 フレキシブルチューブ用測定セルは、SurPASS 3の測定セルのうちで最も柔軟性の高い測定セルであり、フレキシブルチューブの内面だけでなく、水処理用のポリマー中空繊維膜の内面の分析も行えます。 SurPASS３では、次の情報を得ることができます。 ・表面が液体に接触したときの帯電挙動 ・pH及びイオン強度の影響 ・表面化学特性に特有の等電点 ・特定の表面官能基の存在 ・表面改質の評価 ・添加剤の表面への吸着と脱着の挙動
固体表面ゼータ電位測定装置　SurPASS 3　セラミック膜用
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表面特性の分析を直接評価。表面特性の解明と改良、及び新しい材料開発に貢献します！

流動電位及び流動電流の測定原理に基づき、セラミック膜のゼータ電位を評価します。 セラミック膜用測定セルは、シングルチャンネル及びマルチチャンネルのどちらの微量濾過用チューブ状セラミック膜にも対応します。ゼータ電位分析により、セラミック膜の表面電荷に直接アクセスできます。 SurPASS３では、次の情報を得ることができます。 ・表面が液体に接触したときの帯電挙動 ・pH及びイオン強度の影響 ・表面化学特性に特有の等電点 ・特定の表面官能基の存在 ・表面改質の評価 ・添加剤の表面への吸着と脱着の挙動
固体表面ゼータ電位測定装置 SurPASS 3 ポリマーフィルム
固体表面ゼータ電位測定装置 SurPASS 3 ポリマーフィルム 製品画像
表面特性の分析を直接評価。表面特性の解明と改良、及び新しい材料開発に貢献します！

流動電位及び流動電流の測定原理に基づき、ポリマーフィルムのゼータ電位を評価します。 可変ギャップセルにより、長方形または円板状の小型サンプルまでアプリケーションの幅が広がります。 SurPASS３では、次の情報を得ることができます。 ・表面が液体に接触したときの帯電挙動 ・pH及びイオン強度の影響 ・表面化学特性に特有の等電点 ・特定の表面官能基の存在 ・表面改質の評価 ・添加剤の表面への吸着と脱着の挙動
固体表面ゼータ電位測定装置SurPASS 3　平面形状サンプル用
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表面特性の分析を直接評価。表面特性の解明と改良、及び新しい材料開発に貢献します！

流動電位及び流動電流の測定原理に基づき、平面形状サンプルのゼータ電位を評価します。 クランプセルは、SurPASS 3を用いてホイル、ポリマーシート、膜、金属、セラミック、ガラスなどの平面形状サンプルを測定するためのツールです。独自のメカニズムで設定した接触圧力によってサンプルを装着し、再現性の高い測定を実現します。 高い柔軟性 ・ポリマーフィルム、シート、金属、セラミックス、ガラスなどの平板表面向け ・電解液の流路を挟んで同一のサンプル表面を向かい合わせ、そのサンプルのゼータ電位を求める構成と、リファレンス表面を使用する非対称構成の2つの異なるサンプルアレンジメントが可能 ・異なる厚さのサンプルの非破壊測定が可能 SurPASS３では、次の情報を得ることができます。 ・表面が液体に接触したときの帯電挙動 ・pH及びイオン強度の影響 ・表面化学特性に特有の等電点 ・特定の表面官能基の存在 ・表面改質の評価 ・添加剤の表面への吸着と脱着の挙動
固体表面ゼータ電位測定装置SurPASS 3　半導体ウェハ用
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表面特性の分析を直接評価。表面特性の解明と改良、及び新しい材料開発に貢献します！

流動電位及び流動電流の測定原理に基づき、半導体ウェハのゼータ電位を評価します。 クランプセルは、SurPASS 3を用いて半導体ウェハ等の平面形状サンプルを測定するためのツールです。独自のメカニズムで設定した接触圧力によってサンプルを装着し、再現性の高い測定を実現します。 高い柔軟性 ・電解液の流路を挟んで同一のサンプル表面を向かい合わせ、そのサンプルのゼータ電位を求める構成と、リファレンス表面を使用する非対称構成の2つの異なるサンプルアレンジメントが可能 ・異なる厚さのサンプルの非破壊測定が可能 SurPASS３では、次の情報を得ることができます。 ・表面が液体に接触したときの帯電挙動 ・pH及びイオン強度の影響 ・表面化学特性に特有の等電点 ・特定の表面官能基の存在 ・表面改質の評価 ・添加剤の表面への吸着と脱着の挙動
固体表面ゼータ電位測定装置　SurPASS 3　毛髪サンプル用
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表面特性の分析を直接評価。表面特性の解明と改良、及び新しい材料開発に貢献します！

流動電位及び流動電流の測定原理に基づき、毛髪サンプルのゼータ電位を評価します。 ゼータ電位は、固体/液体界面での表面電荷に関係しており、表面化学特性 (pH滴定) 及び固相-液相間の吸着過程の重要な指標になります。 SurPASS３では、次の情報を得ることができます。 ・表面が液体に接触したときの帯電挙動 ・pH及びイオン強度の影響 ・表面化学特性に特有の等電点 ・特定の表面官能基の存在 ・表面改質の評価 ・添加剤の表面への吸着と脱着の挙動
固体表面ゼータ電位測定装置SurPASS 3　メンブレン用
固体表面ゼータ電位測定装置SurPASS 3　メンブレン用 製品画像
表面特性の分析を直接評価。表面特性の解明と改良、及び新しい材料開発に貢献します！

流動電位及び流動電流の測定原理に基づき、メンブレンサンプルのゼータ電位を評価します。 可変ギャップセルにより、長方形または円板状の小型サンプルまでアプリケーションの幅が広がります。 SurPASS３では、次の情報を得ることができます。 ・表面が液体に接触したときの帯電挙動 ・pH及びイオン強度の影響 ・表面化学特性に特有の等電点 ・特定の表面官能基の存在 ・表面改質の評価 ・添加剤の表面への吸着と脱着の挙動
固体表面ゼータ電位測定装置SurPASS 3　ガラス用
固体表面ゼータ電位測定装置SurPASS 3　ガラス用 製品画像
表面特性の分析を直接評価。表面特性の解明と改良、及び新しい材料開発に貢献します！

流動電位及び流動電流の測定原理に基づき、ガラスサンプルのゼータ電位を評価します。 クランプセルは、SurPASS 3を用いてガラス等の平面形状サンプルを測定するためのツールです。独自のメカニズムで設定した接触圧力によってサンプルを装着し、再現性の高い測定を実現します。 高い柔軟性 ・電解液の流路を挟んで同一のサンプル表面を向かい合わせ、そのサンプルのゼータ電位を求める構成と、リファレンス表面を使用する非対称構成の2つの異なるサンプルアレンジメントが可能 ・異なる厚さのサンプルの非破壊測定が可能 SurPASS３では、次の情報を得ることができます。 ・表面が液体に接触したときの帯電挙動 ・pH及びイオン強度の影響 ・表面化学特性に特有の等電点 ・特定の表面官能基の存在 ・表面改質の評価 ・添加剤の表面への吸着と脱着の挙動
粒子径 ゼータ電位 分子量測定装置 Litesizer 500
粒子径 ゼータ電位 分子量測定装置 Litesizer 500 製品画像
直感操作と効率的な測定で粒子分析の複雑さを排除！評価の精度向上や時間短縮に

『Litesizer 500』は、光散乱テクノロジーと考え抜かれた シンプルなソフトウェアを使用して、粒子の粒径、ゼータ電位、 及び分子量の迅速・手軽な測定を可能にします。 一連の測定により「粒子系に関する正確な情報」のみでなく、 経過時間、pH、温度、濃度の変動に伴う「粒子系の変化に関する情報」も取得可能。 時間のロスを減らし、粒子観察の精度向上がはかれます。 【特長】 ■埃や振動、温度変化の影響を受けない光学ベンチ（ケース） ■1台の測定装置で3つの検出角（後方、側方、前方） ■高速かつ高精度でゼータ電位測定が可能にする「cmPALS」の採用 ■連続して透過率を測定し、焦点位置、測定角などを自動調整 ■2ピーク、3ピークの粒子混合物でも精度よく測定可能 ※詳しくはカタログをご覧下さい。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
固体表面分析用ゼータ電位測定装置　SurPASS 3
固体表面分析用ゼータ電位測定装置　SurPASS 3 製品画像
表面特性の分析を直接評価。表面特性の解明と改良、及び新しい材料開発に貢献します！

流動電位及び流動電流の測定原理に基づき、固体サンプル表面のゼータ電位を評価します。 ゼータ電位は、固体/液体界面での表面電荷に関係しており、表面化学特性 (pH滴定) 及び固相-液相間の吸着過程の重要な指標になります。 SurPASS３では、次の情報を得ることができます。 ・表面が液体に接触したときの帯電挙動 ・ｐH及びイオン強度の影響 ・表面化学特性に特有の等電点 ・特定の表面官能基の存在 ・表面改質の評価 ・添加剤の表面への吸着と脱着の挙動
レーザー回折式粒子径分布測定装置 PSAシリーズ
レーザー回折式粒子径分布測定装置 PSAシリーズ 製品画像
アントンパール社のレーザー回折式粒子径分布 (粒度分布) 測定装置は、湿式分散と乾式分散の両モードを完全に一体化した製品です！

アントンパール社のPSAシリーズには、50年以上にわたる経験が生かされています。PSAは世界初のレーザー回折式粒子径分布測定装置として1967年に誕生しました。PSA 990、PSA 1090、PSA 1190の3つのモデルは分散液や乾燥粉末の幅広い粒子径分布を測定できるように設計されています。 レーザー回折技術は、ナノメートルからミリメートルまでの粒子径分布を測定する確立された手法です。分散した粒子にレーザー光を照射すると、粒子によってレーザー光が回折し、この回折パターンを検出・解析します。アントンパール社のPSAは正確で再現性の高い測定信号を得られる高分解能の検出器を搭載しています。この検出器はフラウンフォーファー回折理論及びミー散乱理論に基づく粒子径分布の計算に用いられます。これによってISO 13320及びUSP <429>規格へ準拠しています。 【特長】 ■幅広い粒子径に対応できるマルチレーザー技術 ■液体サンプルも粉末サンプルも同一構成で測定可能 ■粉末の粒子径分布を正確に測定 ■装置のライフタイムを通じた精度、再現性、安定性

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