【製品特長】
<ハイエンドFT-IR：VERTEX シリーズ>
■最大限の柔軟性を持つよう設計
■アップグレードが可能な光学プラットフォームで構成
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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■アップグレードが可能な光学プラットフォームで構成
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最終更新日:
2024-03-06 10:43:26.0
上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。
カタログ発行日：2017年11月
研究開発用ハイエンドリサーチモデル VERTEX 70v ／ VERTEX 80/80v
VERTEX 70v FT-IR分光計は、ブルカーの代表的な技術の一つであり様々な分野で評価の高いRockSolid干渉計をベースとしており、研究開発用途のエントリーモデルとして理想的なシステムです。さらに、真空型の光学系は、クラス最高の仕様を提供します。
VERTEX 80/80vシリーズ は、ブルカー独自のアクティブアライメント機構を搭載したUltraScan干渉計を装備し、高分解能、超高速データサンプリングを可能にしたハイエンドリサーチFT-IR分光計です。最先端アプリケーションにおいて究極の感度と安定性を保証します。
関連情報
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【製品特長】
<ハイエンドFT-IR：VERTEX シリーズ>
■最大限の柔軟性を持つよう設計
■アップグレードが可能な光学プラットフォームで構成
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<ハイエンドFT-IR：VERTEX シリーズ>
■最大限の柔軟性を持つよう設計
■アップグレードが可能な光学プラットフォームで構成
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【その他の掲載製品】
■高速イメージング対応 共焦点顕微レーザーラマン「SENTERRA II」
■白色干渉粗さ・非接触形状測定「NPFLEX」
■高性能 触針式プロファイリングシステム「DektakXT」
■トライボロジー評価試験機「UMT-TriboLab」
■ハイジトロン トライボインデンター「TI980」
■SEM/TEM 電子顕微鏡組込み型 ピコインデンターシリーズ「PI85L / PI89 / PI95」
■原子間力顕微鏡による電池電極測定「Dimension Icon」
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ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部
