最終更新日:
2024-04-08 09:32:47.0
ブルカーの革新技術で生産性向上！お客様のFT-IR分析を最大限に活用します！
『INVENIO S』は、日常分析やラボでの
高度な分析における効率性の最大化を重視した、FT-IR分光計です。
SoC (system-ona-chip) エレクトロニクス、高精度な光学系、そして
総合的に高度な設計品質により、優れた赤外測定感度を実現しています。
また、当製品は様々なIRアプリケーションに適合。
試料のタイプにかかわらず、最適化されたアクセサリと拡張機能が、
適した実験条件を提供します。
【特長】
■定義済みのワークフローによるユーザーフレンドリーなタッチ操作
■統合されたATRアクセサリ
■第2透過試料室 (Transit)
■アップグレード対応 (UV/VIS-FIR、TRS)
■豊富なサンプリングアクセサリ
※詳しくは外部リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
【その他の特長】
■固体、液体、気体の分析
■装置性能自動試験機能
■分光計の状態を常時モニタリング
■各種医薬品規制に準拠
■赤外顕微鏡、TGA、ハイスループットスクリーニングアクセサリなどの増設
■ブルカー特許のパーマネントアライメント、RockSolid干渉計
※詳しくは外部リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | 【用途】 ■品質管理 ■故障解析 ■ライフサイエンス ■環境 ■定量 ■法医学 ■美術および修復 ■表面分析 ■その他 ※詳しくは外部リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
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ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部
