【技術資料】『学術研究における FT-IR』製品カタログ | カタログ

【技術資料】『学術研究における FT-IR』

最終更新日: 2024-03-06 10:43:25.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

カタログ発行日：2022/5/1
無限の可能性を追跡する、FT-IRの活用
我々の世界はこれまでにない速さで変化し、発展しています。その中で科学や研究には、ますます短期間で結果を出すことが求められています。FT-IR 分光法は、化学薬品や材料に関する情報を最も素早く、そして最も簡便に取得できる分析方法の 1 つです。

このカタログでは、
　「化学、物理学、材料、ライフサイエンス、環境」の
５つの分野についてFT-IRの活用をご紹介します。
　

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

関連情報

FT-IRイメージング顕微鏡『LUMOS II』

【その他の特長】
■分析スキルのレベルに関係なくどなたでも使えるガイド機能付きソフトウェア
■作業性を高める長作動距離対物鏡と大きなサンプリングスペース
　最大40mmの分厚い試料も測定可能
■分析対象物を確実に捉える、広い観察視野と高品位な試料像
■すべてのコンポーネントを電動化、ソフトウェアによる集中制御
■透過、反射、ATR、すべての測定モードを完全自動化
■cGMP/GLP、USP、ChP、JP、Ph.Eur.、21CFR Part 11など
　各種医薬品関連規制に準拠
■完全自動化された OQ 、PQ、薬局方テストとPermaSure+機能が保証する
　信頼性に優れる性能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

FT-IRおよびQCL顕微鏡『HYPERION IIシリーズ』

【主な特長】
■すべての測定モードにおける赤外スペクトルと可視像の完全一致
■回折限界に迫る空間分解能と優れた感度の FT-IR 顕微鏡およびイメージング顕微鏡（FPA 検出器採用）
■世界初、FT-IR + QCL 統合システム　赤外レーザーイメージングオプション
(ILIM、レーザークラス 1)
■すべての測定モードに対応するQCLイメージングオプション（透過、反射、ATR）
■特許技術により空間コヒーレンスを低減した高感度・高速レーザーイメージング
■高速イメージング：
　　毎秒 0.1 mm2 (FPA、フルスペクトル)
　　毎秒 6.4 mm2 (ILIM、波数固定時)
■液体窒素なしで高い感度と空間分解能を実現した TE-MCT 検出器オプション
■エミッション測定および波数拡張オプション

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

コンパクトFT-IR分光分析装置『ALPHA II』

【その他特長】
■効率的な化学分析
■イージーメンテナンス
■接続性（Wi-Fi、イーサネット、USB）
■データの一元管理

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

FT-IR分光計『INVENIO S』

【その他の特長】
■固体、液体、気体の分析
■装置性能自動試験機能
■分光計の状態を常時モニタリング
■各種医薬品規制に準拠
■赤外顕微鏡、TGA、ハイスループットスクリーニングアクセサリなどの増設
■ブルカー特許のパーマネントアライメント、RockSolid干渉計

※詳しくは外部リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

研究開発用 FT-IR スペクトロメータ『INVENIO R』

【その他の特長】
■測定および解析用 OPUS ソフトウェア
■ユーザーフレンドリーな操作環境を実現するOPUSTOUCH
■R&D ソフトウェア＋タッチパネルPCオプション
■LED ライトバーによる洗練されたステータス表示
■5台の検出器に対応する MultiTect テクノロジー
■ユーザーによる交換が可能な DigiTect 検出器スロット
■透過測定専用 Transit チャンネル（DTGS 検出器装備）
■24 ビットダイナミックレンジ、デュアルチャンネル ADC による、
　フルデジタル信号処理
■6000 cm-1から 80 cm-1 まで一度の測定でカバーする、Bruker FMテクノロジー
■近赤外、遠赤外、紫外可視域へのアップグレードも容易
■各種変調測定と時間分解測定を実現するラピッドスキャン、
　スロースキャン、ステップスキャン機能
■すべての VERTEX 用アクセサリと外付けモジュールとの互換性を継承
■試料室バイパス／ダイレクトエミッション光路オプション

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

研究開発用マルチレンジスペクトロメータ『INVENIO X』

【その他特長】
■遠赤外、近赤外、可視／紫外領域への拡張、フィールドアップグレード対応
■INTEGRAL干渉計とMultiTectテクノロジーにより遠赤外から可視/紫外領域までのマルチスペクトル測定を完全自動化
■高度な測定と解析に対応するOPUSソフトウェア
■さらに快適な操作環境を実現するOPUS-TOUCH R&Dソフトウェア/タッチパネルPCオプション
■ソフトウェア制御式、光入出力ポート（出力X3、入力X2）
■各種変調測定と時間分解測定を実現するラピッド、スロー、ステップスキャンオプション
■VERTEX、INVENIO 用のすべてのアクセサリおよび拡張モジュールとの互換性を完全継承
■試料室バイパス／ダイレクトエミッション光路オプション
■簡単操作で脱着が可能な試料室カバー（カスタマイズ可能）
■乾燥密閉型光学ベンチ（パージ可能）
■LEDライトバーによる洗練されたシステムステータス表示

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

研究開発用FT-IR　VERTEX 70v/80/80v

【特徴】
○ 最高分解能 0.07cm- 1（80シリーズオプション）
○ 高感度 S/N 50000:1 以上
○ ネットワーク接続（Ethernet）
○ 遠赤外から紫外領域まで拡張可能
○ パージでは除去しきれない水蒸気等を真空により除去（70V 80V)
○ 自動アクセサリ認識・設定機能
○ 自己診断機能
○ マルチ光学アクセスポートによる優れた外部拡張性
○ 複数の外部アクセサリを同時装着可能
○ 高速スキャン＆ステップスキャン時間分解測定対応
○ 24bit ADC DigiTect 検出器システム

● 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

【技術資料】QCLとFT-IRを用いた自動車塗装片の法科学的分析

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

お問い合わせ

下記のフォームにお問い合わせ内容をご記入ください。
※お問い合わせには会員登録が必要です。

至急度必須	通常至急
ご要望必須	購入希望見積もり希望カタログ送付希望価格表送付希望連絡希望訪問希望その他
目的必須	新規導入既存入れ替え試作検討情報収集
添付資料
お問い合わせ内容	【ご利用上の注意】お問い合わせフォームを利用した広告宣伝等の行為は利用規約により禁止しております。