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最終更新日:
2024-12-02 08:53:50.0
次世代のINVENIOプラットフォームを完成させ、先端研究開発用FT-IRの新たなスタンダードを確立
『INVENIO X』は、次世代のINVENIOプラットフォームを完成させ、
先端研究開発用FT-IRの新たなスタンダードを確立します。
「DigiTect」検出器ならびに「Transit」第2試料室を併用することで、
最大7台の検出器を同時に搭載し、それぞれをソフトウェアから自由に
制御することができます。
これにより、遠赤外から可視／紫外までの幅広い領域をカバーすることが
可能となります。
【特長】
■新設計INTEGRAL干渉計
■5台の検出器に対応する革新的MultiTectテクノロジー
■ユーザーによる交換が可能なDigiTect検出器スロット
■専用検出器搭載、簡易透過／反射測定用Transitチャンネル第2試料室
■24ビットダイナミックレンジ・デュアルチャンネル ADC、
フルデジタル信号処理
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
【その他特長】
■遠赤外、近赤外、可視 ／ 紫外領域への拡張、フィールドアップグレード対応
■INTEGRAL干渉計とMultiTectテクノロジーにより遠赤外から可視/紫外領域までのマルチスペクトル測定を完全自動化
■高度な測定と解析に対応するOPUSソフトウェア
■さらに快適な操作環境を実現するOPUS-TOUCH R&Dソフトウェア/タッチパネルPCオプション
■ソフトウェア制御式、光入出力ポート（出力X3、入力X2）
■各種変調測定と時間分解測定を実現するラピッド、スロー、ステップスキャンオプション
■VERTEX、INVENIO 用のすべてのアクセサリおよび拡張モジュールとの互換性を完全継承
■試料室バイパス／ダイレクトエミッション光路オプション
■簡単操作で脱着が可能な試料室カバー（カスタマイズ可能）
■乾燥密閉型光学ベンチ（パージ可能）
■LEDライトバーによる洗練されたシステムステータス表示
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ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部
