【その他特長】
■遠赤外、近赤外、可視 / 紫外領域への拡張、フィールドアップグレード対応
■INTEGRAL干渉計とMultiTectテクノロジーにより遠赤外から可視/紫外領域までのマルチスペクトル測定を完全自動化
■高度な測定と解析に対応するOPUSソフトウェア
■さらに快適な操作環境を実現するOPUS-TOUCH R&Dソフトウェア/タッチパネルPCオプション
■ソフトウェア制御式、光入出力ポート(出力X3、入力X2)
■各種変調測定と時間分解測定を実現するラピッド、スロー、ステップスキャンオプション
■VERTEX、INVENIO 用のすべてのアクセサリおよび拡張モジュールとの互換性を完全継承
■試料室バイパス/ダイレクトエミッション光路オプション
■簡単操作で脱着が可能な試料室カバー(カスタマイズ可能)
■乾燥密閉型光学ベンチ(パージ可能)
■LEDライトバーによる洗練されたシステムステータス表示
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
■遠赤外、近赤外、可視 / 紫外領域への拡張、フィールドアップグレード対応
■INTEGRAL干渉計とMultiTectテクノロジーにより遠赤外から可視/紫外領域までのマルチスペクトル測定を完全自動化
■高度な測定と解析に対応するOPUSソフトウェア
■さらに快適な操作環境を実現するOPUS-TOUCH R&Dソフトウェア/タッチパネルPCオプション
■ソフトウェア制御式、光入出力ポート(出力X3、入力X2)
■各種変調測定と時間分解測定を実現するラピッド、スロー、ステップスキャンオプション
■VERTEX、INVENIO 用のすべてのアクセサリおよび拡張モジュールとの互換性を完全継承
■試料室バイパス/ダイレクトエミッション光路オプション
■簡単操作で脱着が可能な試料室カバー(カスタマイズ可能)
■乾燥密閉型光学ベンチ(パージ可能)
■LEDライトバーによる洗練されたシステムステータス表示
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。