VERTEX 70v シリーズ FT-IR スペクトロメータは、ブルカーの代表的な技術の一つであり様々な分野で評価の高い RockSolid 干渉分光計をベースとした、研究開発用途のエントリーモデルとして理想的なシステムです。
VERTEX 80 シリーズは、ブルカー独自のアクティブアライメント機構を搭載した UltraScan 干渉計を装備し、高分解能、超高速データサンプリングを可能にするハイエンドリサーチ FT-IR(フーリエ変換赤外分光計) です。
いずれもステップスキャンや超高速ラピッドスキャン測定も可能な高精度干渉計と高品質光学部品によるの明るい光学系により、最先端アプリケーションにおいて究極の感度とスタビリティを保証します。
基本情報
【特徴】
○ 最高分解能 0.07cm- 1(80シリーズ オプション)
○ 高感度 S/N 50000:1 以上
○ ネットワーク接続(Ethernet)
○ 遠赤外から紫外領域まで拡張可能
○ パージでは除去しきれない水蒸気等を真空により除去(70V 80V)
○ 自動アクセサリ認識・設定機能
○ 自己診断機能
○ マルチ光学アクセスポートによる優れた外部拡張性
○ 複数の外部アクセサリを同時装着可能
○ 高速スキャン&ステップスキャン時間分解測定対応
○ 24bit ADC DigiTect 検出器システム
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価格情報 | - |
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納期 | お問い合わせください |
用途/実績例 | 【研究開発】 ・メタマテリアルの同定 ・ガス分析に適する、0.06 cm-1 以上の最高分解能 ・真空型FT-IR ビームライン取付用アクセサリ ・酵素触媒実験用、ストップトフロー法 ・超真空測定用試料室接続機構 ・表面電極および電解質のin-situ 分析 【製薬】 ・分子構造解析 (VCD) ・熱分析を用いた安定性および製剤成分の解析 (TGA-FT-IR) ・遠赤外領域における製薬原料の多形態同定 【ポリマー・化学】 ・遠赤外領域における、ポリマー中の無機フィラー同定 (VERTEX FM) ・熱分析を用いた、揮発性物質の同定と分解プロセスの特定 (TGA-FTIR) ・無機鉱物および含量の同定 【表面分析】 ・単分子膜など薄膜の同定・解析 ・極性変調を用いた表面分析 (PM-IRRAS) 【材料科学】 ・光学性および高反射性物質の同定 (窓、鏡など) ・PAS を用いた暗色物質および深さプロファイル解析 ・物質の放射特性分析 【半導体】 ・シリコンウェハー中の酸素・炭素物質同定 ・品質管理時の不純物における低温NIRフォトルミネッセンス分析 |
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ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部