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新着!【技術資料】顕微FT-IRと顕微ラマンを用いたマイクロプラスチックの分析事例

最終更新日: 2024-03-06 10:44:03.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

最近ニュースでも取り上げられる『マイクロプラスチック』を、顕微FT-IRと顕微ラマンで分析します。
1.はじめに
2.FT-IR分光法によるマイクロプラスチックの分析
3.解析事例:マイクロプラスチックの誤検出
4.解析事例:フィルターろ過されたマイクロプラスチックの自動解析
5.測定事例:ビスコースレーヨンとセルロースの識別
6.ラマン分光法によるマイクロプラスチックの分析
7.まとめ

関連情報

研究開発用FT-IR VERTEX 70v/80/80v
研究開発用FT-IR VERTEX 70v/80/80v  製品画像
【特徴】
○ 最高分解能 0.07cm- 1(80シリーズ オプション)
○ 高感度 S/N 50000:1 以上
○ ネットワーク接続(Ethernet)
○ 遠赤外から紫外領域まで拡張可能
○ パージでは除去しきれない水蒸気等を真空により除去(70V 80V)
○ 自動アクセサリ認識・設定機能
○ 自己診断機能
○ マルチ光学アクセスポートによる優れた外部拡張性
○ 複数の外部アクセサリを同時装着可能
○ 高速スキャン&ステップスキャン時間分解測定対応
○ 24bit ADC DigiTect 検出器システム

● 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
共焦点顕微レーザーラマン『SENTERRA II』
共焦点顕微レーザーラマン『SENTERRA II』 製品画像
【各種機能と操作性】
■高速ラマンイメージング測定対応 - 最高速度:100スペクトル/秒
■高波数分解測定においても3500~50cm-1のフルレンジをカバー
■ウィザード機能による簡単・快適な操作
■ワンタッチ切り替え、マルチレーザー対応 : 488、532、633、785、1064nm
■高精度連続自動波数校正機能SureCAL(TM)
■様々な試料に対応するFlexFocus(TM)機構
■Class 1 レーザー安全基準適合
■バリデーション対応
■蛍光を最小限に抑えるFT-ラマンへ拡張可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
Wafer ATRにおけるシリコンウェハー表面の高精度分析
Wafer ATRにおけるシリコンウェハー表面の高精度分析 製品画像
【製品特長】
<ハイエンドFT-IR:VERTEX シリーズ>
■最大限の柔軟性を持つよう設計
■アップグレードが可能な光学プラットフォームで構成

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
FT-IRおよびQCL顕微鏡『HYPERION IIシリーズ』
FT-IRおよびQCL顕微鏡『HYPERION IIシリーズ』 製品画像
【主な特長】
■すべての測定モードにおける赤外スペクトルと可視像の完全一致
■回折限界に迫る空間分解能と優れた感度の FT-IR 顕微鏡およびイメージング顕微鏡(FPA 検出器採用)
■世界初、FT-IR + QCL 統合システム 赤外レーザーイメージングオプション
(ILIM、レーザークラス 1)
■すべての測定モードに対応するQCLイメージングオプション(透過、反射、ATR)
■特許技術により空間コヒーレンスを低減した高感度・高速レーザーイメージング
■高速イメージング:
  毎秒 0.1 mm2 (FPA、フルスペクトル)
  毎秒 6.4 mm2 (ILIM、波数固定時)
■液体窒素なしで高い感度と空間分解能を実現した TE-MCT 検出器オプション
■エミッション測定および波数拡張オプション


※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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