フォス・ジャパン株式会社

【技術資料】FT-IR分析基礎原理「ミルコスキャン」

最終更新日: 2024-01-18 16:09:47.0

上記では、電子ブックの一部をご紹介しております。

関連情報

【技術資料】FT-IR分析基礎原理「ミルコスキャン」
【技術資料】FT-IR分析基礎原理「ミルコスキャン」 製品画像

【掲載内容の詳細(一部)】
■ミルコスキャン
・ミルコスキャンの誕生
・ミルコスキャンの原理
■検量線
・ランベルト・ベールの法則と検量線
・検量線と比較
■調整・校正・標準化
・概要
・調整・校正・標準化の作用位置

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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