蛍光X線方式膜厚測定・素材分析器
フィッシャー社製の蛍光X線方式膜厚測定器では、オプションにより最大で23層24元素の膜厚測定を可能です。
また、膜厚測定と同時に合金メッキ等の組成分析、オプションのセルキットを用いればメッキ液の分析も可能です。
また、膜厚測定と同時に合金メッキ等の組成分析、オプションのセルキットを用いればメッキ液の分析も可能です。
蛍光X線式膜厚測定・分析器『X-RAY XDV-SDD』
新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)搭載の新型モデル!高性能で万能型。研究開発、工程解析、実験室などに好適!
最終更新日:
2024-07-16 09:16:37.0
ハイエンドな蛍光X線測定器『X-RAY XDV-μ』
新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)搭載の新型モデル!薄膜・多層メッキを短時間で測定!
最終更新日:
2024-07-16 09:18:04.0
蛍光X線式測定器『X-RAY XDV-μ LD』
新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)搭載の新型モデル!プリント回路基板やコネクターの複雑形状を短時間で測定が可能
最終更新日:
2024-07-16 09:18:04.0