株式会社フィッシャー・インストルメンツ

蛍光X線式膜厚測定・分析器『X-RAY XDV-SDD』

最終更新日: 2024-07-16 09:16:37.0
新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)搭載の新型モデル!高性能で万能型。研究開発、工程解析、実験室などに好適!

『X-RAY XDV-SDD』は、非常に薄い皮膜の自動測定や
微量分析ができる蛍光X線式測定器です。

大きなセンシング面積と高いエネルギー分解能を持つシリコンドリフトディテクター(SDD)を検出器に採用。
大口径のコリメーターと組み合わせると非常に大きなカウント数が
得られ、優れた再現性と非常に低い検出限界が実現できます。

★新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)を搭載
従来のDPPに比べ最大50%性能向上し、測定時間の短縮に貢献します。

【特長】
■電動ステージ付き
■非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析ができる
■シリコン・ドリフト・ディテクター(SDD)をX線検出器に採用
■高い凡用性
■レーザーポイントが測定位置を表示し位置決めが容易

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

基本情報

【仕様(抜粋)】
■測定元素範囲:Al(13)~U(92)
■X線検出器:シリコンドリフト検出器(SDD)
■X線管球:マイクロフォーカスチューブ
■プライマリフィルター:6種類
■本体寸法:660×835×720mm(幅×奥行×高さ)
■測定チャンバー内寸:580×560×145mm(幅×奥行×高さ)
■重量:約140kg
■消費電力:最大120W

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
用途/実績例 【用途例】
■極薄膜や多層膜の検査(電子・半導体産業など)
■トレース分析(RoHS、玩具、包装材基準のための有害物質検査など)
■NiPの組成分析、厚さ測定

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