株式会社ハイブリッジ

東京営業所

極低温電気抵抗測定装置『HCER-100』

最終更新日: 2024-12-09 13:36:39.0
多様なサンプルに対応!温度制御可能範囲300K~4.2Kの極低温電気抵抗測定装置!

多様なサンプルに対応しており、最大□10mmのサンプルを計測可能。
多段式輻射シールド及び三段式真空容器構造によりサンプル交換が容易です。
スイッチ一つで室温から極低温まで、温度制御できます。(温度調整には
温度センサー及び温度コントローラ〔オプション〕が必要になります。)

【仕様(抜粋)】
■温度可変サンプルステージ:□10mm 無酸素銅ステージ ネジ型8系統端子台
■冷却機構(空冷式2段式クライオスタッド)
 ・1段ステージ:3.0W @60K
 ・2段ステージ:0.1W @4.2K
■温度制御可能範囲:300K~4.2K
■真空容器:三段式真空容器

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

基本情報

【その他の仕様】
■輻射シールド:多段式輻射シールド
■導入端子
・デバイス計測BNC端子(50Ω)8系統
・温度センサー導入端子 2系統
■支持架台:アジャスタ/キャスタ付き支持架台
■外形寸法:W540×D420×H568m 重量約50kg
■ユーティリティー:所要電力 φ1 AC100V/20A D種アース

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