EBSD法によるCu結晶解析
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2023-01-12 17:18:59.0製品カタログ
EBSD解析
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2023-01-12 17:18:04.0製品カタログ
【EBSDによる結晶解析】はんだ接合部における金属間化合物
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2023-01-12 17:19:00.0製品カタログ
【EBSDによる結晶解析】BGA
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【EBSDによる解析例】鉄板
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【EBSDによる解析例】高融点はんだ
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【EBSDによる解析例】ビア
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【EBSDによる解析例】パイプ
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【EBSDによる解析例】ネジ
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【EBSDによる解析例】Chip
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信頼性試験に伴う経時変化観察
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XPS角度分解法による薄膜層の深さ方向分析
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化学反応機構研究所
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断面観察前処理(試料切断・樹脂包埋)
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ワイヤーソーによる切断加工
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アイソメットによるスライス加工
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顕微ラマンによる多層材料分析
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サービス紹介チラシ『フロッピーディスクからSDカード対応装置への置き換え』
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サービス紹介チラシ『ブラウン管モニターから液晶ディスプレイへの置き換え』
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2023-01-12 17:19:33.0その他資料
液晶成分のGCMS分析
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顕微ラマンによる樹脂材料結晶化度分析
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AFM（原子間力顕微鏡）
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微量汚染物のTOF-SIMS分析
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有機物のTOF-SIMS分析
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TMA（熱機械測定）
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TG-DTA（熱重量示差熱分析）
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DSC（示差走査熱量分析）
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2023-01-12 17:17:50.0製品カタログ
DMA（動的粘弾性測定）
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2023-01-12 17:18:04.0製品カタログ
【事例集】X線透視・CT検査装置
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2024-07-19 11:05:54.0技術資料・事例集
【資料】液晶材料とその分析技術
最終更新日：
2023-01-12 17:18:59.0その他資料
