【EBSDによる解析例】ネジ
最終更新日：
2023-01-12 17:18:59.0製品カタログ
加工観察
アイテスでは、断面研磨・加工・観察・分析を行っております。
EBSD法による解析例
最終更新日：
2023-01-12 17:18:59.0製品カタログ
EBSD法によるCu結晶解析
最終更新日：
2023-01-12 17:18:59.0製品カタログ
【受託分析】レーザー顕微鏡（高精度3D測定＆カラー観察）
最終更新日：
2023-01-12 17:18:59.0製品カタログ
【受託分析】レーザー顕微鏡（観察＆測定）
最終更新日：
2023-01-12 17:18:59.0製品カタログ
ウィスカ評価
最終更新日：
2023-01-12 17:19:00.0製品カタログ
Cuワイヤボンディングの接合界面について
最終更新日：
2023-01-12 17:19:24.0技術資料・事例集
【資料】Cuワイヤボンディングの接合界面について
最終更新日：
2023-01-12 17:19:24.0技術資料・事例集
EBSDによる解析例（セラミック）
最終更新日：
2023-01-12 17:18:04.0その他資料
超微⼩硬度計による材料評価
最終更新日：
2023-01-12 17:18:04.0その他資料
【資料】EBSDによるウイスカ解析
最終更新日：
2023-01-12 17:18:04.0その他資料
CCDカメラモジュールの断面加工観察
最終更新日：
2023-01-12 17:18:03.0技術資料・事例集
【資料】機械研磨法による加工ダメージ
最終更新日：
2023-01-12 17:18:04.0その他資料
【資料】太陽電池モジュールの断面観察
最終更新日：
2023-01-12 17:18:04.0その他資料
卓上型SEM(電子顕微鏡)によるクラック観察
最終更新日：
2023-01-12 17:18:04.0その他資料
【資料】卓上型SEM(電子顕微鏡)によるネオジム磁石の断面観察
最終更新日：
2023-01-12 17:18:04.0その他資料
【資料】断面作製方法
最終更新日：
2023-01-12 17:18:04.0その他資料
【不良解析事例】ACアダプターのX線観察
最終更新日：
2023-01-12 17:18:03.0技術資料・事例集
【EBSDによる解析例】カニカン
最終更新日：
2023-01-12 17:18:03.0技術資料・事例集
EPMAによる状態分析
最終更新日：
2023-01-12 17:18:03.0技術資料・事例集
EPMAによる微量元素の検出
最終更新日：
2023-01-12 17:18:04.0技術資料・事例集
EPMA分析
最終更新日：
2023-01-12 17:18:04.0技術資料・事例集
【保有設備】FIB（Focused Ion Beam)
最終更新日：
2023-01-12 17:18:04.0技術資料・事例集
Liイオン電池セパレータの解析
最終更新日：
2023-01-12 17:18:04.0技術資料・事例集
【SEMによる破断面観察】カニカン
最終更新日：
2023-01-12 17:18:04.0技術資料・事例集
デジタルマイクロスコープによる外観観察
最終更新日：
2023-01-12 17:17:49.0技術資料・事例集
【観察事例】トグルスイッチのX線観察
最終更新日：
2023-01-12 17:18:04.0技術資料・事例集
ミクロトームによる断面作製
最終更新日：
2023-01-12 17:18:04.0技術資料・事例集
異物分析のための試料加工技術
最終更新日：
2023-01-12 17:18:04.0技術資料・事例集
ウィスカ観察
最終更新日：
2023-02-16 09:40:53.0技術資料・事例集
