デジタルマイクロスコープによる外観観察不具合を的確に把握！広範囲の一括観察や部分拡大も可能で、様々な観察に対応します 最終更新日： 2022-04-04 14:55:29.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
【イメージングFT-IRによる有機多層膜の分析】多層フィルム有機膜の層構成を調べることが可能！高機能多層フィルム断面のイメージングFT-IR分析をご紹介 最終更新日： 2020-11-11 17:59:47.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
【イメージングFT-IRによる有機多層膜の分析】アルミマイクロATR結晶を密着！赤外線の全反射により表面付近の分析を⾏う⼿法のご紹介です 最終更新日： 2020-11-12 09:02:21.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
イオンクロマト分析固体試料は、イオン性成分を純水に溶出！水溶液中の微量なイオン性成分を高感度に検出可能です 最終更新日： 2020-11-12 09:03:15.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
FT-IR分析のための液体異物サンプリング技術キャピラリーを用いて表面張力によってサンプリング！FT-IR分析が可能となりました 最終更新日： 2020-11-12 09:04:32.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
【保有設備】FIB（Focused Ion Beam)半導体、MEMS、液晶ガラスなど！微小領域の断面加工やTEM試料の作製が可能 最終更新日： 2020-11-12 09:21:20.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
【不良解析事例】ACアダプターのX線観察非破壊で行えるX線観察は初期観察に有効！不良解析事例をご紹介します 最終更新日： 2020-11-12 09:12:42.0 お問い合わせ/資料請求PDFダウンロード
