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ウィスカ評価

検査員が逃さず観察！信頼性試験から解析まで一貫したウィスカ評価が可能です

最終更新日： 2020-08-21 10:14:40.0

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EBAC（吸収電流）法による不良箇所の絞込み

「SEM像」や「吸収電流像（電流センス）」など！配線のオープン不良、高抵抗不良箇所を特定します

最終更新日： 2020-08-21 10:14:40.0

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EELS分析手法による膜質評価

元素同定を行うEELS分析により、物質の結合状態の比較が可能です！

最終更新日： 2020-08-21 10:14:40.0

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FIB-SEMによる半導体の拡散層観察

他手法より短納期！FIB-SEMによる形状観察と、拡散層観察の両方を実施できます！

最終更新日： 2020-11-16 11:44:10.0

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LCDパネル良品解析

LCD部品、製品の品質状態を確認！液晶パネルの各構造を当社の持つ分析手法と知見で解析致します！

最終更新日： 2023-10-05 17:17:06.0

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LV-SEMとEBIC法によるSiC MOSFETの拡散層の観察

SiCパワーデバイスでも、特定箇所の断面作製、拡散層の形状観察、さらに配線構造、結晶構造解析まで一貫対応が可能です！

最終更新日： 2020-11-16 11:41:25.0

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SiCデバイスの裏面発光解析

SiCデバイスの前加工→リーク箇所特定→物理解析/成分分析までスルー対応！

最終更新日： 2020-11-16 11:39:04.0

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静電破壊した橙色LEDの不良解析

良品と静電気（ESD）破壊品の輝度・特性の比較、EMS顕微鏡による発光解析事例をご紹介します！

最終更新日： 2020-08-31 09:13:05.0

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短波長レーザを用いたSiCデバイスのOBIRCH解析

Si半導体とは物性が異なるため、故障解析も新たな手法が必要となります！

最終更新日： 2020-11-16 11:36:23.0

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ICの不良解析

不良モードに適した様々な手法を組み合わせることで、不良ノードの特定から物理解析までを一貫して対応

最終更新日： 2020-08-19 10:41:57.0

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表面実装電子部品の断面観察サービス

実装基板上の電子部品のはんだ接合状態、部品の内部構造を詳細に観察することができます！

最終更新日： 2020-08-06 13:06:01.0

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実装部品・電子部品の断面研磨サービス

1つ1つの部品を手作業で丁寧に、無駄のない工程で研磨加工しています！

最終更新日： 2020-08-06 13:06:01.0

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【受託分析】レーザー顕微鏡（観察＆測定）

広範囲での観察、計測も可能！レーザー顕微鏡を用いた受託分析のご紹介です

最終更新日： 2020-08-06 13:06:01.0

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【受託分析】レーザー顕微鏡（高精度3D測定＆カラー観察）

試料表面の凹凸形状の3D測定や透明体越しの表面形状測定などが可能です！

最終更新日： 2020-08-06 13:06:01.0

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クロスセクションポリッシャー(CP)法による断面観察サービス

高い加工精度と広い加工領域を実現！冷却機能でダメージを軽減しながらの加工も可能です

最終更新日： 2020-08-06 13:06:01.0

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