日本ビジネスロジスティクス(JBL)株式会社 藤沢北事業所

JIS C 60068-2-27 高衝撃試験

最終更新日: 2024-07-08 10:49:51.0

  • カタログ

小型電子部品等の高衝撃試験(対応可能な衝撃範囲は10~30,000G)が実施できます

この試験機は主に小型の電子部品等の衝撃試験ができます。 
試験は正弦半波、台形波、のこぎり波などに対応しており(当社の場合は正弦波のみに対応)、IEC規格、JIS規格、MIL規格、JEITA(EIAJ)規格、その他の社内規格などにも対応しております。
作用時間にもよりますが、対応可能な衝撃範囲は10~3,000Gとなります。
当社の場合はショックアンプを使い30,000Gまで対応可能となります。
また、この試験機は、ニューマチック方式により広範囲(衝撃加速度/作用時間)の試験条件が容易に再現することができます。 

【試験規格】
・JIS C 60068-2-27
・IEC 60068-2-27
・MIL-STD-202
・MIL-STD-810
・MIL-STD-883
・EIAJ ED-4701/400
など

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主な仕様
制御方式 :コンピュータによるプログラム制御方式
駆動方式 :ニューマチック方式
衝撃波形 :正弦半波、のこぎり波
加速度範囲 :10から300 G (作用時間による )
作用時間 :0.1から30 ms  (加速度による )
最大速度 :838cm/s
繰返し周期 :最大8回/min
最大搭載重量 :90 kg
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